EDX4500型 EDX4500型臺(tái)式X熒光礦石分析儀
- 公司名稱 深圳市藝慈儀器有限公司
- 品牌 SanX/三翔
- 型號(hào) EDX4500型
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/1/9 14:28:28
- 訪問次數(shù) 2731
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設(shè)備特點(diǎn)
X熒光法在應(yīng)用于礦石行業(yè)的特點(diǎn)很明顯,,分析速度快,,前處理簡單,樣品無損,、人為誤差小,、分析范圍廣、檢出限達(dá)到ppm級(jí)等的特點(diǎn),??梢詼y液體、固體和粉未樣品,??捎糜谑覂?nèi)外現(xiàn)場分析
,。
1、設(shè)備簡單易用(野外設(shè)備需要便攜)
2,、可快速對樣品做定性分析
3,、對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析。
4,、樣品處理方法簡單或無前處理
5,、設(shè)備可靠、維修,、維護(hù)簡單
6,、便捷、低廉的售后服務(wù)保證
設(shè)備作用
采用便攜式X熒光礦石分析儀主要是為了能在野外地質(zhì)分析和找礦,。為現(xiàn)場人員提供數(shù)據(jù)支持和依據(jù),。
在找礦和礦山冶煉過程中,也起到快速分析的作用,,進(jìn)行定性,、定量分析,提供初級(jí)數(shù)據(jù)和生產(chǎn)控制實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)
測試
便攜式X熒光礦石分析儀測定多金屬礦中元素的方法
測試對象:多金屬礦
儀器:EDX4500型臺(tái)式X熒光礦石分析儀
測定步驟:
步:前處理樣品-粉碎后壓片10g左右直接測試,。
第二步:確定測試時(shí)間:30S
第三步:測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差