雙折射測量儀PA-300-L
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京歐屹科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地 日本
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/1/24 13:29:26
- 訪問次數 2885
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產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天 |
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米,。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,,雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,,使其成為業(yè)內,,特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300-L主要特點:
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操作簡單,,測量速度可以快到3秒,。
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視野范圍內可一次測量,測量范圍廣,。
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更直觀的全面讀取數據,,無遺漏數據點。
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具有多種分析功能和測量結果的比較,。
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維護簡單,,不含旋轉光學濾片的機構。
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高達2056x2464像素的偏振相機,。
雙折射測量儀PA-300-L應用領域:
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光學鏡片
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智能手機玻璃基板
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藍寶石,、硅晶圓
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人工晶體等等
技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm |
6 | 視野尺寸 | 40x48mm到240x320mm(標準) |
7 | 選配鏡頭視野 | 不適用 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,,鏡片解析軟件,數據處理軟件,,實現外部控制 |
測量案例: