X光膜厚測試儀技術指標

型號：THICK600X光膜厚測試儀
分析范圍： Ti-U,，可分析3層15個元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
測量時間：40秒（可根據(jù)實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，*小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm
儀器重量：30kg

X光膜厚測試儀應用領域

X光膜厚測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍,、PCB、電子電器,、氣配五金,、衛(wèi)浴等行業(yè)。

用途及意義

X光膜厚測試儀對材料表面保護,、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器,，測量的對象包括涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學生成膜等（在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating））,。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質量檢測的重要一環(huán),，是產品達到優(yōu)等質量標準的*手段。為使產品國際化,，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求。

X光膜厚測試儀長效穩(wěn)定X銅光管
半導體硅片電制冷系統(tǒng),，摒棄液氮制冷
采用天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE）
內置高清晰攝像頭,，方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準確
手動開關樣品腔,，操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構,、外型高貴時尚
FP軟件，無標準樣品時亦可測量