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M2M-GEKKO 實時全聚焦相控陣探傷儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

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    上海易啟檢測技術有限公司是一家集檢測設備的銷售,、維修、服務為一體的綜合性公司,。公司始創(chuàng)于2004年,,主要經營活動包括:生產檢測儀器設備及探頭等耗材,承接儀器維修業(yè)務和開展第三方檢測服務,。上海易啟檢測為各技術監(jiān)督部門,、檢驗檢測機構提供各類檢測儀器和成套設備,用戶遍及全國,。提供第三方檢測服務,,具備獨立法人機構,擁有豐富的石油化工,、鋼結構,、工業(yè)管道和特種設備檢測服務經驗,在同行業(yè)中具有高度專業(yè)水平,,是*市場競爭力的企業(yè)之一,。

 

設備銷售部
    上海易啟檢測技術有限公司已自主設計、開發(fā)的產品包括:超聲波探傷儀,、超聲波探頭,、自動和半自動掃查器,、硬度計,產品主要用于無損探傷檢測等,。同時代理X射線探傷機,、磁粉探傷儀、滲透劑和涂層測厚儀等檢測相關的國內外優(yōu)秀品牌產品,。易啟檢測深厚的專業(yè)技術底蘊,,是易啟檢測設備銷售部的優(yōu)勢。專業(yè)的顧問式銷售,,是售前,、售中,、售后服務的可靠保障,。售前積極協(xié)助客戶進行需求技術評估、檢測方法論證,;售中以多年的實際作業(yè)經驗*可靠的儀器型號,,提供具競爭力的價格;售后上門培訓和調試,,一對一有針對性的服務,。易啟檢測的不斷追求,使服務體系做到完善,、科學,、周到。

 

檢測服務部
    上海易啟檢測技術有限公司檢測服務部專門從事第三方檢測,。檢測服務能力主要體現于檢測人員的水平,,易啟檢測非常注重人才培養(yǎng),多年來一直與蘇州無損檢測協(xié)會建立良好的合作關系,,是協(xié)會的*“無損檢測證書”考證培訓機構,,多年來培養(yǎng)了一大批無損檢測人員。近年來,,隨著輸電線路鐵塔,、通信鐵塔和戶外廣告牌業(yè)務逐漸增多,易啟檢測參與了與國家塔架質量監(jiān)督檢驗中心項目合作,,該中心是國家塔架監(jiān)督抽檢機構,,是塔架檢測方面的,*的合作提高了易啟檢測的技術和經驗,。易啟檢測以其*的服務能力不斷擴*影響力的同時,,也樹立起公正、可靠,、信賴的良好口碑,。

 

儀器維修部
     上海易啟檢測技術有限公司探傷儀維修部成立多年,,是國內較早能夠維修進口超聲波探傷儀等產品的公司,承接包括德國KK/奧林巴斯等進口品牌探傷儀維修,,也開展汕超/中科/友聯(lián)等國產超聲波探傷儀維修業(yè)務,,現面向全國市場接受超聲波探傷儀、X光射線探傷機,、測厚儀,、硬度計等維修服務。 維修部專業(yè)的工程師,,有豐富的實修經驗,,能夠解決各類型探傷儀維修難題。*與德國KK/奧林巴斯/聲納/汕超所/汕超電子/多浦樂合作,,提供原廠配件,。工程師維修完畢的機器,均交由發(fā)貨部專人功能測試和技術壓力測試,,確保機器*正常才交由客服寄件發(fā)貨,。凡在本中心維修的產品,均提供一年的保修技術支持服務,,讓您無后顧之憂,。

超聲波探傷儀,超聲波測厚儀,,涂層測厚儀,,硬度計,粗糙度儀,,光譜儀

M2M-GEKKO 實時全聚焦相控陣探傷儀

 

    M2M-GEKKO實時全聚焦相控陣探傷儀,。*的TFM技術是M2M研發(fā)的其中一項核心技術,它采用全矩陣捕捉法(FMC)對檢測區(qū)域進行數據采集,,在采用TFM算法實時對區(qū)域進行成像,,使得超聲檢測在缺陷定量及定性上更加準確。

    GEKKO可采用8×8面陣探頭聚焦,。而常規(guī)相控陣探傷儀常采用線陣探頭,,通過CIVA聲場仿真我們可以觀察到:線陣探頭的聲場分布不均,偏轉效果不如面陣探頭聲場,;且線陣探頭副瓣比面陣探頭聲場更大,,易出現雜波影響檢測效果。

 

相控陣探傷儀
M2M相控陣探傷儀- 探頭匹配 支持線性及二維面陣探頭
聚焦法則 1600個相控陣法則
掃查組     多支持8個不同掃查組混合檢測
操作流程 預置應用模塊,,參數配置向導,,數據分析,報告生成
實時成像 A-掃,,B-掃,,C-掃,,S-掃
實時全聚焦成像(TFM) 三維空間實時成像
檢測方法 脈沖回波,TOFD,,收發(fā)分離,,深度動態(tài)聚焦,基于CIVA的聚焦法則運算核心

 

實時全聚焦成像技術TFM

    超聲波探頭
    TFM成像與傳統(tǒng)相控陣扇掃成像的對比
    超聲波探頭

    常規(guī)相控陣扇掃成像,,無法精確檢測缺陷尺寸,,無法檢出0.2橫孔,TFM成像可以清晰識別傾斜面前部0.2毫米小孔

 

    實時全聚焦成像技術TFM是M2M研發(fā)的其中一項核心技術,。它采用全矩陣捕捉法(FMC)對檢測區(qū)域進行數據采集,,在采用TFM算法實時對區(qū)域進行成像,使得超聲檢測在缺陷定量及定性上更加準確
 

 

   64晶片同時激發(fā)在聲場方面的優(yōu)勢

    超聲波探頭

超聲波探頭

                             同時激發(fā)16個晶片的聲場    

                      同時激發(fā)64個晶片的聲場

    16個晶片遠場效果,,且能量低,,焦點尺寸大分辨率低

 

    超聲波探頭超聲波探頭
                            同時激發(fā)16個晶片的聲場 

                             同時激發(fā)64個晶片的聲場

    通過CIVA聲場仿真我們可以觀察到16晶片的聲場分布不均,偏轉效果不如64晶片聲場,,且16晶片副瓣比64晶片聲場更大,,出現雜波影響檢測效果。

 

   控制二維面陣探頭的優(yōu)勢

    超聲波探頭
    64晶片同時激發(fā)模式還可以控制一個面陣探頭(8×8),,能同時激發(fā)16個晶片的設備無法有效控制面陣探頭,使用此類探頭能夠對三維空間進行任意方向掃查,,可以在同一探頭位置檢測到不同取向的缺陷,。


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