1、第二代CCD全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）,、通道不受限制 ,；

2,、引進(jìn)歐洲技術(shù)、同光譜儀技術(shù)同步,；

3,、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用

4,、升級(jí)多基體方便，無須變動(dòng)增加硬件 ,；

5,、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析,，可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ,；

6、體積小,、重量輕,， 移動(dòng)安裝方便 ；

7,、高集成度,、高可靠性、高穩(wěn)定性 ,；

主要特點(diǎn)：

1,、可測(cè)定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體,，如：鐵基,，鋁基，銅基,，鎳基,，鉻基，鈦 基,，鎂基,，鋅基，錫基和鉛基,。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍,，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；

2,、分析速度快捷,，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分。針對(duì)不同的分析材料,，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線,，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果,；

3、光學(xué)系統(tǒng)采用充氬恒溫光室,， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入光室,，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限,，測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確,，重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性；

4,、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),，使光室容積更小，充氬速度不到普通光譜儀的一半,；

5,、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描,，確保接收的正確性,，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線,，與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比,，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定,；

6,、開放式的電極架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾,，便于各種形狀和尺寸的樣品分析,；

7、工作曲線采用標(biāo)樣,，預(yù)做工作曲線,，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成,，自動(dòng)扣除干擾,；

8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源,，適應(yīng)各種不同材料 ,；

9、固態(tài)吸附阱,，防止油氣對(duì)光室的污染,，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性；

10,、銅火花臺(tái)底座,，提高散熱性及堅(jiān)固性能,；

11、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì),，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短,，為用戶節(jié)省氬氣；

12,、采用鎢材料電極,，電極使用壽命更長(zhǎng)，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能,，清潔電極更加容易,；

13、高性能DSP及ARM處理器,，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光室溫度、氬氣壓力,、光源,、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀況；

14,、儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接,，抗干擾性能好，外部計(jì)算機(jī)升級(jí)與儀器配置無關(guān),，使儀器具有更好的適用性,；

15、核心器件全部*,，保證了儀器優(yōu)秀品質(zhì),。

參數(shù)指標(biāo)：