TSY-35型 塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-測(cè)量精度
- 公司名稱 GB美特斯制造(天津)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) TSY-35型
- 產(chǎn)地 天津
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/9 20:04:23
- 訪問(wèn)次數(shù) 1021
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具 |
TSY-35型塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-測(cè)量精度薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試,、箔片,、硅片、金屬片的厚度測(cè),、試紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀-測(cè)量精度產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間,。
3,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),,其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測(cè)量面為平面時(shí),,測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),,上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試,、箔片,、硅片、金屬片的厚度測(cè),、試紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間,。
3,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),,其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜,、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測(cè)量面為平面時(shí),,測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),,上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試,、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2,、上下測(cè)量面為平面時(shí),,測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3,、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),,上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間,。
4,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,,還可適用于紙張,、紙板的厚度測(cè)試、箔片,、硅片,、金屬片的厚度測(cè),、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試,。
產(chǎn)品參數(shù)
1,、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí),,測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間,。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),,上測(cè)量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí),,其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4,、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
合作單位: