菲希爾測厚儀XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀作為一款高性能能量色散型 X 射線熒光設備,，集鍍層測厚與材料分析功能于一體,，廣泛應用于無損檢測領域。無論是鍍層厚度測量,、材料成分剖析,，還是溶液成分分析，或是大規(guī)模生產零部件及印刷線路板的鍍層檢測,，它都能輕松勝任,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀該測厚儀具備長期穩(wěn)定性，大幅減少校準頻次,，降低使用成本,。其比例接收器可實現(xiàn)高計數率，確保測量結果精準可靠,；FISCHER 基本參數法的應用,，使儀器無需標準片，就能對鍍層系統(tǒng),、固體及液體樣品進行高效測量分析,，特別適用于質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控等場景。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測厚儀在自動化檢測方面,，配備可編程 XY 工作臺的版本,，可實現(xiàn)系列測試自動化。儀器能便捷掃描樣品表面,，精準檢測鍍層均勻性,。測量門開啟時，XY 工作臺自動移至加載位,，激光點同步指示測量點,，便于快速定位樣品。針對大尺寸平整樣品（如線路板）,，側面開口的 C 形槽設計,，極大提升裝載便利性。寬敞的測量室可容納高度達 140mm 的復雜形狀樣品,；部分型號 Z 軸支持電動調節(jié),，測量距離可在 0-80mm 自由設定，配合 DCM 方法,，能輕松完成腔體內部,、表面不平整物體的測量任務。