太陽能單晶硅片測厚儀關(guān)鍵詞：單晶硅片測厚儀,、單晶硅片厚度檢測儀器、單晶硅片厚度測量儀器,、單晶硅片厚度測試儀

濟(jì)南辰馳生產(chǎn)的CHY-C2款測厚儀,，可用于單晶硅片厚度的檢測，測試分辯率高達(dá)0.1微米,，*單晶硅片對厚度高精度測試的要求,；同時(shí)測試幅面寬度可以達(dá)到400mm，*單晶硅片整個(gè)幅面厚度測試的要求,。CHY-C2測厚儀除了具備高精度,、高效率等特點(diǎn)外，還采用測量樣品自動(dòng)前進(jìn)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),，大大提高了測試效率,，充分滿足用戶連續(xù)高效測試的要求，并配有專業(yè)軟件支持,，操作方便,、人機(jī)交互友好。
1,、太陽能單晶硅片測厚儀結(jié)構(gòu)組成
CHY-C2測厚儀主要由控制系統(tǒng),、測量系統(tǒng),、打印輸出系統(tǒng)三部分組成。測量系統(tǒng)對薄膜進(jìn)行測量,，并輸出相應(yīng)電信號,；控制系統(tǒng)用以參數(shù)的設(shè)定、修改,、傳輸信號的處理,、測量結(jié)果的顯示等；打印輸出系統(tǒng)的功能是統(tǒng)計(jì)結(jié)果的輸出,，打印試驗(yàn)結(jié)果,。
2、太陽能單晶硅片測厚儀功能原理
CHY-C2測厚儀確保測量結(jié)果的高精確性,，多次測量結(jié)果的高度*性,；且操作調(diào)試極其方便，幾近于自動(dòng)化操作,，zui大限度地減少了人為因素對測量結(jié)果帶來的影響,；并具有手動(dòng)、自動(dòng)兩種測量模式,，對于手動(dòng)模式測量，可打印輸出測量結(jié)果,，對于自動(dòng)模式測量,，可按照預(yù)先設(shè)置好的次數(shù)自動(dòng)測試，并對測量結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì),、分析,、打印輸出；接觸面積,、測量壓力,、移動(dòng)速度等嚴(yán)格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。