ATP5104 高性能光纖光譜儀
- 公司名稱 奧譜天成（廈門）光電有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ATP5104
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/11 8:52:31
- 訪問次數(shù) 2904
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| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生 |
|---|
ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀
產(chǎn)品概述
ATP5104是奧譜天成針對紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀,，它采用3072像素的紫外增敏線性CCD,，可以適應165-1100nm波長范圍的測試，CCD檢測器曝光時間可以控制在1ms之內(nèi),，同時,，奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路,，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*水平,，可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比,。
ATP5104是紫外、可見,、近紅外光譜應用的理想選擇,，有不同的狹縫、光柵,、反射鏡,、濾光片可以選擇，可以根據(jù)您的需求,，配置適合不同應用場合的光譜儀,，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇,，奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇,。
ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測光，根據(jù)設定的積分時間進行測量,，將測量結果通過USB2.0（高速）或者UART輸出,；
ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀
特點：
紫外增強高性能背照式CCD
專門針對紫外優(yōu)化的光路和結構；
探測器：背照式CCD
探測器像素：3072
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍,、狹縫寬度)
光路結構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
ATP5104-紫外增強
典型應用：
拉曼光譜儀
微量,、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率,、吸光度檢測,；
反射率檢測；
紫外,、可見和短波近紅外
波長檢測
探測器 | |
類型 | 線陣背照式CCD |
探測光譜范圍 | 165-1100 nm |
有效像素 | 3072 |
像元尺寸 | 600μm×8μm |
全量程范圍 | ~200 ke- |
靈敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪聲 | 6 e- |
光學參數(shù) | |
波長范圍 | 165-1100 nm |
光學分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
性噪比 | >1000:1 |
動態(tài)范圍 | 3000：1 |
工作溫度 | -10-40 oC |
工作濕度 | < 85%RH |
光路參數(shù) | |
光學設計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狹縫寬度 | 5,、10,、25、50,、100,、150、200 μm 可選,，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纖接口,、自由空間 |
電氣參數(shù) | |
積分時間 | 1 ms - 130 second |
數(shù)據(jù)輸出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供電電源 | DC 5V±10% |
工作電流 | <2.3A |
存儲溫度 | -20°C to +70°C |
操作溫度 | -10°C to +40°C |
物理參數(shù) | |
尺寸 | 102×720×34 mm3 |
重量 | 0.3 kg |
Sealing | Anti-sweat |
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