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建筑玻璃透反射光譜測量系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京卓立漢光儀器有限公司
  • 品牌 ZOLIX/卓立漢光
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/5/20 16:52:18
  • 訪問次數(shù) 2292

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北京卓立漢光儀器有限公司是一家集光學(xué),、精密機(jī)械,、電子、計算機(jī)技術(shù)于一體的高*技術(shù)企業(yè),。卓立漢光自1999年起,,通過數(shù)年的不斷努力,成長為光電儀器廠商之一,。目前公司的電控位移臺,、手動位移臺、光學(xué)調(diào)整架等產(chǎn)品已經(jīng)形成產(chǎn)品系列化,規(guī)格多元化,,國內(nèi)多家科研單位,、激光加工設(shè)備廠商、光纖設(shè)備廠商在使用我們的產(chǎn)品,。2000年推出我司套量產(chǎn)型三光柵光譜儀后,,不斷推出了多套熒光,、拉曼、光電探測器光譜響應(yīng),、太陽能電池檢測等光譜測量系統(tǒng),,廣泛應(yīng)用在眾多高校和科研院所的研究與試驗,為國家科技創(chuàng)新貢獻(xiàn)了一份力量,產(chǎn)品憑借優(yōu)良的品質(zhì)遠(yuǎn)銷歐美,、東南亞等海外市場,。 2005年10月在同行業(yè)中通過ISO9001質(zhì)量管理體系SGS認(rèn)證。2010年取得國家高*技術(shù)企業(yè)認(rèn)定,2016年卓立漢光技術(shù)中心順利通過市級技術(shù)中心評審,。

 

卓立漢光主要生產(chǎn)經(jīng)營:熒光/拉曼光譜系統(tǒng),、各類光譜測量系統(tǒng)、太陽能電池檢測儀器,、光柵光譜儀,、各類型光源及探測器、電控精密位移臺,、手動精密位移臺,、光學(xué)調(diào)整架、光學(xué)平臺,、光學(xué)元件等系列產(chǎn)品,。


我們誠心聆聽用戶的需要與批評,作為不斷改進(jìn)的動力,,能讓您滿意卓立漢光的產(chǎn)品及服務(wù),,就是我們的成就。因此我們以卓立漢光的光機(jī)產(chǎn)品提供 “終身保固”的承諾,來表達(dá)我們對產(chǎn)品的信心,。


我們堅持從設(shè)計,、零件選型、制造,、裝配,、檢驗、包裝,、運(yùn)輸,、直到售后服務(wù)做好*質(zhì)量保證,就是要讓您 “付有所值”,,以合理的價位得到優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,,這是我們對您選擇卓立漢光真誠的回報。

卓立漢光始終以滿足用戶需求為宗旨,,分別于上海,、深圳、成都,、西安設(shè)立分公司,,為用戶提供及時周到的銷售與技術(shù)服務(wù),。“研發(fā)創(chuàng)新、快速反應(yīng),、優(yōu)質(zhì)服務(wù)” 是我們的經(jīng)營理念,, 公司長期重視優(yōu)質(zhì)高效、短時間為客戶開發(fā)產(chǎn)品及提供技術(shù)支持,。卓立漢光真誠地希望與國內(nèi)外同仁攜手合作,,為推動我國光電產(chǎn)業(yè)迅猛發(fā)展做出貢獻(xiàn)。

 

 

 

光譜儀,,拉曼光譜,熒光光譜,,太陽能電池檢測,,位移臺,滑臺,,光學(xué)調(diào)整架,,電動滑臺,光學(xué)平臺,,光學(xué)元件

建筑玻璃透射,、反射/吸收光譜測量系統(tǒng)

建筑玻璃透反射光譜測量系統(tǒng)本系統(tǒng)采用卓立漢光的技術(shù)(號:ZL 201220078394.9,一種寬光譜透射,、反射測量裝置)優(yōu)化設(shè)計而成,,滿足建筑玻璃的標(biāo)準(zhǔn)測試需求,同時也能夠應(yīng)用于其它透明材料的透射,、反射/吸收光譜測試需求,。

建筑玻璃透反射光譜測量系統(tǒng)特點(diǎn)

  • 光譜測量范圍:300-2500nm
  • 光譜分辨率:5nm以下
  • 光譜掃描步距:0.1-10nm連續(xù)可設(shè)置
  • 波長準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.5nm(紫外-可見區(qū)),優(yōu)于±1nm(近紅外區(qū))
  • 光度測量準(zhǔn)確度:1%以內(nèi)(紫外-可見區(qū)),,2%以內(nèi)(近紅外區(qū))
  • 光度測量重復(fù)性:0.5%(紫外-可見區(qū)),,1%(近紅外區(qū))
  • 測試光束平行度:不大于±5°
  • 測試光軸與試樣夾角:不大于10°
  • 測試試樣尺寸(*):100(L)*100(W)*10(D)(mm)
  • 光譜透射比和反射比測試時無需調(diào)整試樣的位置和光路,實現(xiàn)“原點(diǎn)測試”

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