全新XK-50M 研究級金相顯微鏡集西尼科光學多項*于一身,，從外觀到性能都緊跟設計風向，致力于拓展工業(yè)領域全新格局,。50M 秉承西尼科不斷探索不斷超越的品牌設計理念,，為客戶提供完善的工業(yè)檢測解決方案。

多檔分光比觀察頭設計
全新50M 系列觀察筒,，采用寬光束成像系統(tǒng)設計,，支持26.5mm 的超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗,。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒,，保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向*，使操作更加得心應手,。
三檔式鉸鏈三目觀察筒,，在成像光線* 用于雙目觀察或三目攝影的基礎上，增加一檔20% 用于雙目觀察,，80% 用于顯微攝影,，方便用戶同時對鏡下圖像與視頻圖像進行對比觀察；

偏振系統(tǒng)
偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器,，可做偏光檢測,，在半導體和PCB 檢測中，可消除雜光，細節(jié)更清楚,。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器,。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài),?？稍谄裣到y(tǒng)的基礎上加載全新研發(fā)微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng),。

諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)
全新研發(fā)的U-DICR 微分干涉組件,，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來,，如LCD 導電粒子,，精密磁盤表面劃痕等。

物鏡轉(zhuǎn)換器,，多孔可選
多孔物鏡轉(zhuǎn)換器可以對同一個標本的觀測點進行連續(xù)的更加合理的低,、中、高放大倍率觀察,。全新的物鏡轉(zhuǎn)換器將光軸與轉(zhuǎn)動軸之間的夾角降低到15°,，提高了對中精度和齊焦精度，且外觀更加緊湊,。