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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>配件耗材>電鏡/顯微鏡配件/附件>AFM探針>ScanAsyst-Air 布魯克BrukeAFM探針 ScanAsyst Air

ScanAsyst-Air 布魯克BrukeAFM探針 ScanAsyst Air

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 世普藍華(北京)科技有限公司
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號 ScanAsyst-Air
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2019/2/19 10:07:29
  • 訪問次數(shù) 1832

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


      世普藍華(北京)科技有限公司是一家年輕的高科技公司,主要從事表面科學,、分析儀器,、實驗室儀器及單晶材料的服務(wù)和銷售,為科研,、檢測及生產(chǎn)提供完整可靠的解決方案,。銷售的儀器主要有美國TSI、泰斯肯(Tescan),、布魯克(Bruker)等世界的高精度分析儀器,、表面檢測儀器,、生產(chǎn)設(shè)備,,以及配套的耗材和配件;銷售的單晶材料主要有:磷化銦( InP),、銻化鎵(GaSb),、砷化銦(InAs),。這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導體、平板顯示,、太陽能,、電子等各個領(lǐng)域。

       展望將來,,公司將會引進更多的表面檢測和化學分析的測試儀器,,為客戶提供測試測量技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品配套,、系統(tǒng)集成(軟,、硬件)、維修,、租賃,、第三方儀器設(shè)備外包管理、采購管理,、咨詢服務(wù)以及保稅庫物流配套服務(wù)等,。并將更多專業(yè)的應(yīng)用技術(shù)滲透到日常服務(wù)中去,更便捷,、更周到地滿足客戶需求,。對世普藍華而言,客戶需要的正是我們所追求的,,是我們孜孜以求的坐標和不斷超越的動力,!在未來激烈多變的市場競爭中,世普藍華將與客戶一起攜手并進,,共創(chuàng)輝煌,。

原子力顯微鏡,AFM探針,,納米壓痕儀,,

供貨周期 一周 規(guī)格 空氣中智能成像模式
主要用途 原子力顯微鏡成像

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 智能成像模式 空氣中 ScanAsyst Air

ScanAsyst  Air,是空氣中智能成像模式ScanAsyst 探針,,僅適用于具有Scansyst成像的AFM,。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.

ScanAsyst®利用一種專門的曲線采集方法和復雜的算法,對圖像質(zhì)量進行持續(xù)的監(jiān)測,,并能自動地對參數(shù)進行適當?shù)恼{(diào)整,。因此:

- 無論用戶的專業(yè)技術(shù)水平如何,圖像自動優(yōu)化都能更快獲取更*的結(jié)果,。

- 可直接控制力的強弱,,調(diào)到超低力,從而保護易碎樣品和針尖不受損壞,。

 實現(xiàn)了懸臂調(diào)節(jié)的消除,,定位調(diào)整,,獲得大優(yōu)化讓液態(tài)成像變得簡單。

氮化硅單懸臂探針,,所有ScanAsyst針尖都有<2度的懸臂彎曲,。

詳細規(guī)格:

延展閱讀:

關(guān)于布魯克:

布魯克公司以*的生產(chǎn)工藝,專業(yè)的AFM領(lǐng)域背景,,得天獨厚的生產(chǎn)裝備,,賦予探針制造眾多的優(yōu)勢,確保在較廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域中提供完整的AFM解決方案,。

 

布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢:

*Class100級別的無塵室

**的設(shè)計,、制造工序及制造工具

*探針設(shè)計團隊與AFM設(shè)備研發(fā)團隊通力合作,配合緊密

*訓練有素的生產(chǎn)團隊,,制造出各種型號的探針

*全面的質(zhì)量管理體系,,確保探針性能

 

在實驗中,用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復性,。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制,,全面的質(zhì)量測試,和AFM領(lǐng)域的專業(yè)背景,。所以用戶盡可放心,,我們的探針不僅為您當前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果,同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù),。

 

原子力顯微鏡AFM探針:  

探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結(jié)構(gòu):懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm,。

制作工藝:半導體工藝制作

 

指標:

探針的指標主要分三個部分,分別對應(yīng)了基片,,微懸臂梁,,和針尖三個部分。

1. 基片,,就是基片的長,,寬,高,,各種探針的基片尺寸是基本*的,。

2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率,。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個參數(shù),一般來說,,接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m,。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。

3. 針尖,,針尖的的幾何形狀是一個四面體,。指標主要有,,曲率半徑(Tip Radius),,探針高度(Tip Height),對應(yīng)于四面體的指標,,前角(Front Angel),,后角(Back Angel),側(cè)角(Side Angel),,還有一個是Tip Set Back,,對應(yīng)的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質(zhì):

1. 輕敲探針:一般是單晶硅,,型號如RTESP,;

2. 接觸模式探針:材質(zhì)是SiN,而新型號的SNL接觸探針,,懸臂梁是SiN,,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖,;

3. 功能探針:如磁力探針(MESP),,導電探針,則是在普通的硅探針的基礎(chǔ)上再鍍上相應(yīng)的材料,。MESP的鍍層是Co/Cr,,SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹:

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式,,RTESPA-300,,TESP,F(xiàn)ESP

2. 接觸模式,,SNL,,NP,

3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡,,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡,,導電AFM,等電學測量模式,,DDESP,,SCM-PIT,SCM-PIC等,。

6. 其他特殊功能探針,。如金剛石探針,大長徑比探針。

 

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