高精度分析天平廠家 產品介紹:
分析天平是準確稱量一定質量物質的儀器,。稱量前應檢查天平是否正常,,是否處于水平位置,吊耳,、圈碼是否脫落,,玻璃框內外是否清潔。實驗室分析天平,,高精度天平廠家,。分析天平是定量分析工作中*的重要儀器,一般是指能精確稱量到0.0001克(0.1毫克)的天平,。
高精度分析天平廠家 適用范圍:
FA/JA系列電子分析天平是集精確,、穩(wěn)定、多功能與自動化于一體的更*電子天平,,可以滿足所有實驗室質量分析要求,。實驗室分析天平,高精度天平廠家該天平采用高性能MCS-51單片微處理機控制,,以確保天平稱量結果高精確度,,并具有標準的信號輸出口,可直接連接打印機,、計算機等設備來擴展天平的使用,使您的稱量分析更加現(xiàn)代化,,工作更輕松。
功能特性:
結構新穎,,柔和背光液晶顯示,,操作方便,性能*,。
全自動故障檢測,,確保產品的安全使用。
采用新一代電磁平衡式稱量傳感器,,使產品的精度有可靠保證,。
外置電源適配器,保證了產品的稱重準確和讀數(shù)的精確,。
內置RS232輸出接口,可與計算機,、打印機等外部設備聯(lián)用,。
參數(shù)規(guī)格:
型 號 | 校 正 | zui大 | zui小讀 | 誤差 | 線性 | 秤盤尺寸(mm) | 外形尺寸(mm) | 連續(xù)工作時間 |
FA1004N | 內校 | 100 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA1104N | 內校 | 110 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA1204N | 內校 | 120 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA1604N | 內校 | 160 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA2004N | 內校 | 200 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA2104N | 內校 | 210 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
FA2204N | 內校 | 220 | 0.0001 | 0.0001 | 0.0002 | 80mm | 356*330*215 | 不少于8小時 |
測量原理
1.機械天平根據(jù)杠桿原理,當天平達平衡時,,物體的質量即等于砝碼的質量,。
2.電子分析天平多采用電磁平衡方式,因稱出的是重量,,需要校準來消除重力加速度的影響,。
操作規(guī)程
1,、旋動開關使用時,必須緩慢均勻地啟閉,,過快時會使刀刃損壞,,同時由于過劇晃動造成計量誤差。
2,、在每次稱量時,,都應將天平關閉,不能在天平開啟時增減砝碼,,或在秤盤中放置被稱物,。
3、稱量時應先適當?shù)毓烙嬏砑禹来a,,然后開啟天平,,觀察指針偏移放向后,再增減砝碼,重新開啟天平至投影屏中出現(xiàn)靜止到10mg內的讀數(shù)為止,。
4,、被稱物在10mg以下時,可在投影屏上直接讀出,。
5,、天平室內溫度應保持在20±2℃,避免陽光曬射及渦流侵襲或單面受冷受熱,,框罩內應放置硅礬干燥劑,。不得使用酸性液作干燥劑。
6,、被稱物體應放在秤盤*,,不得超過天平zui大稱量。
7,、對過于冷熱且含有揮發(fā)性及腐蝕性的物體不可放入天平內稱量,。
8、天平使用完畢后,,應將制動器關閉和砝碼指數(shù)盤旋至零位,,并將天平用套子罩上。
9,、當整個天平要搬動時,,必須將橫梁、左右秤盤,、環(huán)形砝碼,、吊耳等零件小心取下,放入盒內,。其他零件不可隨意拆下,。
稱量方法:
(1)直接稱量法:所稱固體試樣如果沒有吸濕性并在空氣中是穩(wěn)定的,,可用直接稱量法。先在天平上準確稱出潔凈容器的質量,,然后用藥匙取適量的試樣加入容器中,,稱出它的總質量。這兩次質量的數(shù)值相減,,就得出試樣的質量,。實驗室分析天平,高精度天平廠家
(2)減量法:在分析天平上稱量一般都用減量法,。先稱出試樣和稱量瓶的精確質量,,然后將稱量瓶中的試樣倒一部分在待盛藥品的容器中,到估計量和所求量相接近,。倒好藥品后蓋上稱量瓶,,放在天平上再精確稱出它的質量。兩次質量的差數(shù)就是試樣的質量,。如果一次倒入容器的藥品太多,,必須棄去重稱,切勿放回稱量瓶,。如果倒入的試樣不夠可再加一次,,但次數(shù)宜少。
(3)法:對于性質比較穩(wěn)定的試樣,,有時為了便于計算,,則可稱取質量的樣品。用法稱量時,,在天平盤的兩邊各放一塊表面皿(它們的質量盡量接近),,調節(jié)天平的平衡點在中間刻度左右,然后在左邊天平盤內加上固定質量的砝碼,,在右邊天平盤內加上試樣(這樣取放試樣比較方便),,直至天平的平衡點達到原來的數(shù)值,這時,,試樣的質量即為的質量,。
4.使用分析天平時除應遵循托盤天平有關操作規(guī)則外,還應注意:添加砝碼,、取放稱樣或其它原因接觸天平時應先把天平梁托住,,否則易使刀口損壞,這是使用天平規(guī)則中zui重要的一條,。每次稱量時,應將天平門關好,。加砝碼后開啟天平時,,指針擺幅應控制在2~4格之間,。被稱樣品視其性質放在潔凈干燥的稱量瓶或表面皿中稱量。稱量瓶不得用手拿,,要用濾紙條夾取,。稱量結束,要檢查天平梁是否托好,,砝碼是否齊全,,有無藥品撒落到天平內,天平門是否關緊,,布罩是否罩好,。天平使用一段時期后,要送*進行檢定和調修,。天平的全面清潔工作每年應進行兩次,。
調整天平:
( 1 )調水平
使用電子分析天平前位兩個底腳螺絲調正水準器。氣泡在水準器正*即為水平,。
( 2 )調零點
即使微量標尺上的 0 點與游標(光屏)刻線*重合,。
①較大的零點調整 可移動橫梁上左右平衡螺絲的位置。
②較小的零點調整 即微量標尺“ 0 ”點與游標(光屏)刻線相距 3 格以內,,可轉動底板下面的撥桿
( 3 )調光
①射影顏色 若燈光射影顯示干擾的顏色,,明暗不一,可轉動和移動聚光鏡的位置,。
②射影不正 如光學投影上的刻度偏上或偏下,,可移動一次反射鏡的角度來調整。
③射影明晰性 如光學投影上的射影不清晰或重線,,可調放大鏡的距離,。
( 4 )調感量
用重心螺絲調感量。重心螺絲向上移動時感量增大,。重心螺絲向下移動時 感量減小,。沒有一定經驗的人,不要隨意自行調整感量,。
( 5 )調秤盤
當電子分析天平停止使用時,,秤盤應正好與下面的托盤輕微接觸,如托 盤太高或太低,,可將托盤撥下,,調整托盤螺絲的長短使其摩擦適度。
故障處理:
1.故障現(xiàn)象:天平開機自檢無法通過,,出現(xiàn)下列故障代碼 “EC1”:CPU損壞 “EC2”:鍵盤錯誤 “EC3”:天平存儲數(shù)據(jù)丟失 “EC4”:采樣模塊沒有啟動,。
原因:自檢錯誤造成天平不能正常工作。
解決方法: 請將天平送廠家修理,。
2.故障現(xiàn)象: 天平顯示“L”
原因:1)沒有安放秤盤
2)秤盤下面有異物
3)氣流罩與秤盤碰在一起
解決方法:
1)將秤盤安置在秤盤座上,。
2)輕輕拿起秤盤檢查是否有異物在秤盤下,,拿走異物。
3)輕輕轉動秤盤或氣流罩查看是否有碰的現(xiàn)象,,調整氣流罩的位置,。
3.故障現(xiàn)象: 加載天平顯示“H”
原因:
1)秤盤上加載物體過重,超出zui近量程
2)曾用小于校準砝碼值的砝碼或其它物體校準過天平,,導致放上正常量程內的重量顯示超重,。
解決方法:
1)只在量程范圍內稱量
2)用正確的砝碼重新進行校準。
4.故障現(xiàn)象: 開機顯示“L”,,加載顯示“H”或開機顯“H”,,加載顯示“L”
原因:天平超出允許工作的溫度環(huán)境。
解決方法:天平正常工作的溫度環(huán)境20℃±5℃,,每小時環(huán)境溫度變化不大于1℃,,將天平移置該環(huán)境溫度條件場所。
5.故障現(xiàn)象:顯示數(shù)據(jù)曾經隨稱重變化而正常變化,,突然出現(xiàn)不再變化
原因:
曾經使用大于校正砝碼值的物體用于天平校準,,從而出現(xiàn)大于某一個顯示值后顯示不再增加
解決方法:重新校準天平。