英國(guó)泰勒霍普森Surtronic DUO 粗糙度儀工作原理

英國(guó)泰勒霍普森Surtronic DUO 粗糙度儀工作原理
英國(guó)泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON型可分離式Surtronic Duo是一種便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，只需按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù),。這些參數(shù)（如Ra,、Rz、Rp,、Rv和Rt）會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上,。由上海量博實(shí)業(yè)有限公司總代理的新型Surtronic DUO使用大容量充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速,、輕松和的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,。
英國(guó)泰勒新型手持式粗糙度儀Surtronic DUO可測(cè)量多種粗糙度參數(shù)：Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku; Pa, Pz, Pp, Pv, Pt（ISO 4287標(biāo)準(zhǔn)）。

英國(guó)泰勒-霍普森型粗糙度儀Surtronic DUO通過(guò)采用耐磨的金剛石測(cè)針部件,，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置,，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過(guò)波峰和波谷時(shí),，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測(cè)到它的垂直移動(dòng),，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)。電子信號(hào)將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器,，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù),。
技術(shù)參數(shù)：
粗糙度儀量 程： 200um
行 程： 5mm
取樣長(zhǎng)度： 0.8mm+/-15%
參 數(shù)： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um
精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸： 125*80*38mm
檢測(cè)方式： 壓電式
DUO新型粗糙度儀重 量： 200g
Surtronic Duo的特點(diǎn):
測(cè)量 - 觸覺(jué)測(cè)量按鈕，適用難測(cè)到的位置
分體式 - 通過(guò)滑軌和鎖定裝置,，分為顯示/控制裝置和驅(qū)動(dòng)裝置兩部分
金剛石測(cè)針和壓電傳感器 - 帶金剛石的堅(jiān)固耐磨的壓電傳感器測(cè)針,，確保測(cè)量結(jié)果的可靠性。
藍(lán)牙技術(shù) - 在驅(qū)動(dòng)裝置和顯示/控制裝置之間進(jìn)行快速可靠的通信

1.快速可靠的測(cè)量
輕輕的按下Surtronic DUO表面粗糙度測(cè)量?jī)x的測(cè)量按鈕,，在幾分鐘內(nèi)就能得到一個(gè)完整的可追溯的測(cè)量結(jié)果,，包括可在屏幕上顯示的詳細(xì)輪廓曲線圖。
 2.特殊設(shè)計(jì),，堅(jiān)固耐用
Surtronic DUO的整個(gè)機(jī)身由塑化橡膠包裹,。聚脂薄膜保證了觸摸屏的持久耐用性,，適用于***苛刻的工業(yè)環(huán)境。
 3.InstantOn瞬間蘇醒技術(shù)
這些型Surtronic DUO粗糙度檢測(cè)儀器采用InstantOn技術(shù),，開(kāi)機(jī)后不到5秒鐘就能開(kāi)始測(cè)量,！
 4.現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
英國(guó)泰勒新型粗糙度儀Surtronic DUO尤其適用于在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)產(chǎn)品磨損和粗糙度的變化，預(yù)估產(chǎn)品的壽命,。例如,，檢測(cè)渦輪片表面粗糙度的變化，作為早期缺陷和效率損失的預(yù)警信號(hào),。
另外篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀,、輪廓儀、圓度儀,、圓柱儀,、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x,；
==>>量博LAB GAGES 全自動(dòng)零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng),；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測(cè)中心,；
==>>?？怂箍等鴺?biāo)、ROMER關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī),；
==>>瑞士TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀,、測(cè)高儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī),；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng),；
==>>德國(guó)斯派克SPECTRO直讀光譜儀、德國(guó)布魯克Bruker火花光譜儀,；
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀,、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)EPK手持式涂覆層測(cè)厚儀,；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng),、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀,、紅外探測(cè)器,；
==>>英國(guó)施泰力Starrett光學(xué)投影儀；
==>>量博LAB全自動(dòng)顯微硬度測(cè)試系統(tǒng),、布洛維硬度機(jī),、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì),、維氏硬度計(jì),；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀,、超聲波探傷儀、渦流探傷儀,；
==>>量博工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡,、金相制樣設(shè)備；
==>>美國(guó)雷泰Raynger紅外測(cè)溫儀,；
==>>美國(guó)OGP多傳感影像測(cè)量?jī)x,；