日本電子SEM掃描電子顯微鏡JSM-IT300經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng),，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,，還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。

高品質(zhì)的圖像

日本電子SEM掃描電子顯微鏡JSM-IT300通過改進(jìn)電子光學(xué)系統(tǒng),，使圖像質(zhì)量更高,，成像和分析更快。

減少了充放電現(xiàn)象

新的掃描方式能抑制非導(dǎo)電性樣品的荷電效應(yīng),。

低真空模式(LV)

低真空壓力范圍從10 Pa 至 650 Pa,，拓寬了可以觀察的樣品材料的范圍。

多功能：
 

大型樣品室和樣品臺

能容納大型,、較重的樣品,，可裝載zui大尺寸為200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達(dá)2 kg 的樣品,。

*幾何設(shè)計的分析接口

多個接口可以安裝EDS,、EBSD 和WDS 等附件， EDS 和EBSD 處于同一平面,，此外,，還能安裝兩個相隔
180 度的EDS 檢測器用于高通量的顯微分析。

移動迅速的樣品臺

新開發(fā)馬達(dá)驅(qū)動樣品臺能快速地定位 ( 與其它JEOL 的產(chǎn)品相比快1.5 倍）,。

全自動5 軸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺

采用了機(jī)械對中,、五軸（X、 Y,,、Z,、T、R) 異步馬達(dá)控制的樣品臺,，當(dāng)觀察厚樣品或當(dāng)感興趣區(qū)域(ROI)
不在傾斜軸的中心時,，可利用標(biāo)配的計算機(jī)控制的全對中傾斜和旋轉(zhuǎn)校正功能。

全新的真空系統(tǒng)

全新的真空系統(tǒng)縮短了樣品交換后抽真空的時間,，使低真空模式下的信號更好,。


直觀的操作：

觸摸屏界面

新設(shè)計和開發(fā)的圖形用戶界面（GUI）使操作更加舒適，還能支持觸摸屏操作,。 用戶界面的大小可以調(diào)節(jié),，因此在分析或數(shù)據(jù)處理時，可以優(yōu)化工作空間,。
 

多用戶,、多任務(wù)

多用戶登錄功能,，可用于自定義工作區(qū)和樣品條件的設(shè)置。

支持多語言

用戶界面語言可以在日語和英語間切換( 通過圖標(biāo)選擇),。