Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀

X射線熒光測量儀,，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸,，可自動測量薄涂層厚度和進行材料分析。在設(shè)計上,，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應,。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上,，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而,，這臺儀器適合于一般材料分析,，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品,。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品,。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺,，因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面,。此外，在如引線框架等樣品上進行多點測量,，或是在多個不同樣品上進行批量測量,，都可以通過快速編程自動化地完成。 X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管,。然而,，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數(shù)器探測器來說），信號強度低,，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點的測量,。和XDLM類似，準直器和基本濾片是可自動切換,，以便為不同測量程式創(chuàng)造*佳的激勵條件,。

主要特征：

?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
?*高工作條件： 50 kV, 50W
?X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
?準直器：4個,，可自動切換,，從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm
?基本濾片：3個，可自動切換
?測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
?可編程XY平臺
?視頻攝像頭可用來實時查看測量位置,，十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺,，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
?設(shè)計獲得許可,，防護全面,，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

應用領(lǐng)域：

?鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。
?來料檢驗,，生產(chǎn)監(jiān)控,。
?研發(fā)項目
?電子行業(yè)
?接插件和觸點
?黃金、珠寶及手表行業(yè)
?測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
?痕量分析
?根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
?分析硬質(zhì)鍍層材料