德國 Panco 公司 電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
- 公司名稱 KTIMES TECHNOLOGY LIMITED
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) 德國 Panco 公司
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/19 20:38:01
- 訪問次數(shù) 4105
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
系統(tǒng)組成部分
1,、三矢量軸定位平臺(tái)及其控制器
2,、熱量克測(cè)量的測(cè)溫探針
3、接觸探測(cè)系統(tǒng)
4,、模擬多路器
5,、數(shù)字電壓表
6、鎖相放大器
7,、攝像探頭
8,、帶有控制軟件和 GPIB 總線的計(jì)算機(jī)
9、樣品架
電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
掃描電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)顯微鏡可以測(cè)量樣品的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的空間分布狀況,,是研究熱電材料的利器,。
應(yīng)用領(lǐng)域 1、熱電材料,超導(dǎo)材料,,燃料電池,,導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測(cè)量 2、測(cè)量功能梯度材料的梯度 3,、觀察功能梯度材料的梯度效應(yīng) 4,、監(jiān)測(cè) NTC/PTC 材料的電阻漂移 5、導(dǎo)電固體中的傳導(dǎo)損耗 6,、陰極材料的電導(dǎo)率損耗 7,、GMR 材料峰值溫度的降低,電阻率的變化 8,、樣品的質(zhì)量監(jiān)控 |
主要技術(shù)參數(shù) 位置單向定位精度: 1 μm位置雙向定位精度: 3 μm zui大掃描區(qū)域: 150 mm × 50 mm 局部測(cè)量精度: 10 μm (與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān)) 信號(hào)測(cè)量精度: 100 nV 測(cè)量結(jié)果重復(fù)性: 優(yōu)于3% 技術(shù)由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發(fā),,點(diǎn)擊資料下載按鈕下載說明手冊(cè)。 | |
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