電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備
設(shè)備用途  

適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗,，也是篩選電子元器件初期故障的助手,。  

高低溫沖擊測試箱（溫度沖擊試驗箱）是我司重點研發(fā)設(shè)備，國家產(chǎn)品,，電子行業(yè)里我們客戶繁多,，也希望得到您的認可,。

溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制,；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯,；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護,，確保了設(shè)備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口,、以太網(wǎng)通訊功能,，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式,，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%,；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證,；

 

電子芯片冷熱沖擊老化測試設(shè)備

設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式,、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能,，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容,；
高強度,、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕,、冷熱疲勞功能強,，使用壽命長,；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小,；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命,；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔,、記錄儀,、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗,、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果,；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

電子芯片冷熱沖擊  老化測試設(shè)備

溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制,；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯,；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風量及加熱的高可靠性,；
USB接口,、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要,；
采用流行的制冷控制模式,，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%,；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品,，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證,；

 

設(shè)備執(zhí)行與滿足標準    
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法,；     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；     
3,、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗,；     
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗,；     
5,、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；     
6,、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗,。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式      
9,、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則      
11,、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則    
13,、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估 

電子芯片冷熱沖擊  老化測試設(shè)備

安裝條件