EDX-720-700-LE 二手日本島津RoHS分析儀器出售島津EDX-720,，EDX-GP/EDX-LE射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元
1、樣品室
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS,，二手熒光光譜分析儀蓋子 自動開啟/關閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測定時蓋子自動,。
大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
二手島津X射線熒光光譜分析儀EDX-700HS，二手熒光光譜分析儀（特點說明：樣品室自動開啟,，樣品蓋子的結構設計有效避免X光的泄露,，滿足日本及中國X射線的泄露控制標準,。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）
2,、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1,、3、5,、10mm可選
（特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄,，可以保證各種大小樣品的高精度測試。）
測定室開孔 13mm
3,、測定氣氛：大氣
4,、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準確定位分析區(qū)域產(chǎn)品名稱：

EDX-720-700-LE 二手日本島津RoHS分析儀器出售熒光X射線元素分析儀

產(chǎn)品型號：

EDX-LE

廠商名稱：

SHIMADZU(島津)

島津射線熒光光譜儀檢測器:
1,、檢測器
類型 Si（Li）檢測器
液氮 只有在分析時添加
液氮消耗 少
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率,，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準確度的分析,。在性能,、實績、穩(wěn)定性上,，Si(Li)半導體是性的實績（島津檢測器是自己生產(chǎn),，在萬一發(fā)生故障也迅速對應）。 掘場按振動檢測器的性能下降,。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV,、在分析樹脂中的Cd、Pb時,，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾,、并有時不能檢出，還有因為是低強度,，在測試金屬中有害元素的感度也差,。）
2、計數(shù)單元
放大器
擬合時間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道