Zeta電位及納米粒度分析儀

Zeta電位及納米粒度分析儀

納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小,，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低,，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定,。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應用,。作為行業(yè)的先鋒,，早在1990年，超細顆粒分析儀器UPA（UltrafineParticle Analyzer）研發(fā)成功,，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年,，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技術(shù),，結(jié)合動態(tài)光散射理論和先進的數(shù)學處理模型,，NPA150/250將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達百分之四十，基本實現(xiàn)樣品的原位檢測,。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,，直接比照因顆粒的布朗運動而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度,，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),，信號強度高出幾個數(shù)量級。另外,，新型“Y”型梯度光纖探針的使用,，實現(xiàn)了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音,，提高了儀器的分辨率,。

Zeta電位測量：
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,，開發(fā)出一代Nanotrac wave微電場分析技術(shù),，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿,，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù),。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Nanotrac wave采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,，配置膜電極產(chǎn)生微電場,，操作簡單，測量迅速,，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,，*消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失,，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異,，分散介質(zhì)的影響,，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結(jié)果準確可靠,，重現(xiàn)性好。
 

技術(shù)參數(shù)：

粒度分析范圍: 0.3nm-10µm

重現(xiàn)性：誤差≤1%

濃度范圍：ppb-40%

檢測角度：180°

分析時間：30-120秒

準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度: 無需預選,，依據(jù)實際測量結(jié)果,，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果

理論設(shè)計溫度：0-90℃，可以進行程序升溫或降溫

兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
分子量測量：水力直徑或德拜曲線
技術(shù)：膜電極,，微電場電勢測量,，“Y”型光纖探針設(shè)計,，異相多普勒頻移，可控參比方法,，快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法,，非球形顆粒校正因子

光學系統(tǒng)：

3mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品,，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,，無需校正光路

軟件系統(tǒng)：

先進的Microtrac FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形,，數(shù)據(jù)輸出/輸入,，個性化輸出報告，及各種文字處理功能,，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),，Microsoft Access格式（OLE）等。體積,，數(shù)量,，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù),。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,，包括口令保護，電子簽名和授權(quán)等,。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC,，5A，50/60Hz
環(huán)境要求：溫度,，10-40°C
相對濕度：小于95%

配置：

有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選

主要特點：
﹡采用的動態(tài)光散射技術(shù),，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
﹡的“Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍寶石測量窗口,，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下，與膜電極對應產(chǎn)生微電場,，測量同一體系的Zeta電位,， 避免樣品交叉污染與濃度變化。
﹡的異相多譜勒頻移技術(shù),，較之傳統(tǒng)的方法,，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性,。
﹡的可控參比方法（CRM）,，能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度,。
﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
﹡的快速傅利葉變換算法（FFT,，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間。
﹡膜電極設(shè)計,，避免產(chǎn)生熱效應,，能準確測量顆粒電泳速度。
﹡無需比色皿,，毛細管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質(zhì)的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度,。