SPECTRO-MS電感耦合等離子體質譜儀

--SPECTRO MS可同時記錄約210種同位素75種以上元素的信息
--全新的ICP-MS可分析從鋰元素到鈾元素的全部元素信息
--新型的直接充電檢測器和離子光學元件保證了*的準確度和高樣本通量
--能夠記錄差異同位素的信息,，開拓了全新的應用領域

SPECTRO-MS電感耦合等離子體質譜儀詳細信息：
克萊沃,，2010年3月1日- SPECTRO MS在Pittcon 2010上(奧蘭多/佛羅里達, 2010年2月28日-3月5日) SPECTRO展示了*臺*同步測量的電感耦合等離子發(fā)射質譜儀(ICP-MS, 見背景介紹部分)。SPECTRO MS記錄了從鋰到鈾的所有元素譜圖,，可用于各種金屬元素分析,。與連續(xù)質譜相比,，使用這款儀器，用戶可大大增加樣本通量,，而且分析準確度更高,。
“SPECTRO MS將會不斷地改善質譜儀。與幾年前出現的分光儀(optical emission spectrometer)一樣,，SPECTRO MS可以進行同步測量的優(yōu)勢也將在市場上掀起一場變革,，” SPECTRO公司管理主管Manfred Bergsch稱。“SPECTRO MS不僅具有更高的準確度和結果重現性,，且比普通質譜分析速度更快;它為實驗室開拓了全新的應用前景,。”

一系列全新設計的元件實現了全譜同步記錄：
--在離子傳遞過程中，新型的離子光學元件可有效的將離子從等離子體傳輸到質譜中;同時有效地消除電子束中的中性粒子和光子,。
--Mattauch-Herzog設計——雙聚焦扇形場質譜儀,。靜電分析儀和永磁體直接將離子聚焦在焦平面上，不需要再進行離子束掃描,。
--極其強大的有4,800個通道的直接充電檢測器,，放置在質譜儀焦平面上，可同步記錄從鋰元素到鈾元素的全質量譜圖,，平均每個同位素占20個通道,。每個通道均被分為兩個獨立的且信號放大倍數不同的檢測器。從而實現SPECTRO MS精確測定極限同位素比率的動態(tài)工作范圍,。
--新發(fā)明的休眠模式,，真空系統(tǒng)耐用、用戶友好且能耗極低,。
--SPECTRO MS的外觀,、軟件和激發(fā)技術均與ICP-OES主打產品SPECTRO ARCOS密切相關。新型儀器中的等離子體發(fā)生器為耐用,、獨立的27.12 MHz發(fā)生器,；保證了等離子體極其穩(wěn)定能量耦合。

研究實驗室的新標準
--新型SPECTRO MS的應用范圍廣泛,。Bergsch說到：“我們了解到,，許多應用領域，尤其是在商業(yè)研發(fā)實驗室,，樣本數量非常大且這類機構的要求*,。這里，SPECTRO MS能夠真正在以下方面顯示出優(yōu)勢：精確,、重現性,、檢測限、樣本通量,。SPECTRO MS很快就會在這一領域成為標準系統(tǒng),。”

同位素比率分析
--除了研究實驗室,，同步質譜還可應用在以下工業(yè)領域：環(huán)境、化學和制藥實驗室,，這些領域的用戶可以獲益于儀器的檢測限和樣本通量,。貴金屬加工廠和精煉廠將會體驗到高精度儀器的優(yōu)勢。在確定同位素比率方面可以開發(fā)新的應用,，還可以將精確的同位素比率分析應用到使用同位素稀釋法進行元素含量的定量分析中,。通過這種方法，地質實驗室可以更加準確地表征樣本,。

背景知識：ICP-MS
--30年來， 電感耦合等離子發(fā)射質譜(ICP-MS)已經成為元素分析規(guī)定的檢測方法：根據不同元素的質量分析元素含量,。將液體樣本用一個噴霧器噴射到離子化的,、1000攝氏度的氬等離子體中。之后離子通過真空接口被轉移到離子選擇器中,，聚成一束并且在質譜中聚焦,。質譜根據質荷比將離子束分離。檢測器記錄離子,，實現元素含量分析,。*的離子光學組合、質譜儀和檢測器使新型的SPECTRO MS 成為*分離和同步檢測全部離子束的ICP-MS,。

關于斯派克(SPECTRO)分析儀器公司
--SPECTRO是光譜發(fā)射和X-射線熒光光譜儀的主要制造商之一,。SPECTRO生產良好的儀器，研發(fā) 好的解決方案來完善應用和提供優(yōu)質的客戶服務,。SPECTRO的產品具有*的技術實力,，可為用戶提供檢測方面的優(yōu)勢。SPECTRO公司自1979年成立至今,，已有30, 000套分析測試儀器遍布,。
阿美特克公司是主要的電子儀器和電動機制造商，年銷售額約25億美元,。阿美特克的公司成長計劃建立在四個重要的策略之上：的運作,、戰(zhàn)略兼并與聯盟、和市場擴張以及新產品,。