電子產(chǎn)品研發(fā),、水質(zhì)監(jiān)測儀、實驗室設(shè)備,、化工產(chǎn)品、五金電器,、工業(yè)環(huán)境檢測儀,、干燥箱,、干燥器、無油真空泵,、無損探傷儀器及耗材,、光學(xué)器材,、常規(guī)儀器,。
A1型 磁粉探傷標準靈敏度試片
簡 介:
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學(xué)會提出,以后為多個國家使用,,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,,對幾何形狀復(fù)雜,,不同材質(zhì)的工作,,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設(shè)備,,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特 點:
試片用于磁粉顯示,,圖象直觀,,使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,,尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時,,表現(xiàn)其*的優(yōu)點。
性能規(guī)格:
A型標準試片分為A1,、A2,;A1為退火材料制成,A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片,,與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應(yīng)。本試片為A1 (15/50μ)標準試片,。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片,,規(guī)格為(8-9)D,;適用于中靈敏度探傷,,其中括號中分子為槽深,分母為試片厚度,,單位為(微米),,D為工件直徑。
本套試片包括:
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
使用方法:
1,、標準試片適宜于連續(xù)磁化法,,使用時應(yīng)選適當靈敏度的試片,將刻有槽的一面朝向工件,,用膠帶紙緊密地貼上,,保證試片與被檢面接觸良好,膠帶紙貼于試片兩邊緣,,不能覆蓋試片背面的刻槽部位,。
2,、進行外加懸場法,,對工件進行磁化,,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,,即是磁化電流),。上述步驟完畢后,,貼在工件表面上的試片,,即可清楚顯示磁痕。
注意事項:
1,、試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,,保證試片與被檢面接觸良好。
2,、試片用后請涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用,。
磁粉探傷試片 磁粉探傷試片