ELEMENT GD Plus 賽默飛雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀
- 公司名稱 賽默飛色譜及質(zhì)譜
- 品牌 其他品牌
- 型號 ELEMENT GD Plus
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/2/17 13:36:14
- 訪問次數(shù) 3232
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離子色譜(IC)、氣相色譜(GC),、液相色譜(LC),、原子吸收光譜儀(AAS)、等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS),、等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-AES/OES),、樣品前處理儀器、色譜耗材和樣品瓶等
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,農(nóng)業(yè) |
賽默飛雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀結(jié)合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器,,可以定性定量分析固體樣品中包括C,、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素,,是直接,、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的工具。
賽默飛雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢,,在以下方面有杰出表現(xiàn):
1,、樣品測試通量高:ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計(jì)使可縮短換樣和分析時(shí)間,顯著提高生產(chǎn)率,;
2,、檢測器線性范圍寬:檢測器線性范圍達(dá)12個(gè)數(shù)量級,可一次掃描同時(shí)檢測基體和痕量元素組成,;
3,、具有固定寬度的低、中,、高分辨率狹縫,采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素,。
1,、微秒級脈沖、高流速,、大功率
相較靜態(tài) GD,,該獨(dú)特技術(shù)具有出色的靈敏度和較低的多原子干擾,穩(wěn)定性絕佳,、準(zhǔn)確度極高并能縮短分析時(shí)間,,在金屬和合金檢測方面的準(zhǔn)確度為 ±30%(無需校準(zhǔn))。
2、雙聚焦質(zhì)譜儀
高離子傳輸率結(jié)合低背景噪聲,, 鑄就了無可比擬的信噪比和低至亞 ppb 級的檢出限,。高質(zhì)量分辨率實(shí)現(xiàn)最佳選擇性和準(zhǔn)確度。
3,、十二數(shù)量級的自動檢測系統(tǒng)
>擁有 12 個(gè)數(shù)量級線性動態(tài)范圍的全自動檢測器可在一次掃描中同時(shí)測定基體和超痕量元素,。
4、高效易用的先進(jìn)軟件包
所有參數(shù)均由計(jì)算機(jī)控制,,可實(shí)現(xiàn)全自動分析,、數(shù)據(jù)評估以及與自動數(shù)據(jù)傳輸?shù)?LIMS 連接性。