雷擊浪涌組合波信號發(fā)生器詳細介紹

       浪涌的發(fā)生是由于直接或間接的雷電擊中戶外電路所致,，這將會引起瞬態(tài)的高壓或大電流,。浪涌干擾的另外一個來源是開關(guān)干擾和系統(tǒng)故障。幾乎所有的電子電氣設(shè)備都會受到浪涌的影響,。這更加證明了浪涌測試的必要性,。浪涌電壓可達數(shù)千伏特，浪涌電流則可達數(shù)千安培,。

雷擊浪涌組合波信號發(fā)生器EMTEST VCS500特點
> 浪涌電壓zui高可達 4.4kV
> 浪涌電流zui大可達 2.2kA
> 電壓/電流監(jiān)測
> 內(nèi)置單相或三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
> 安全鎖
> 警示燈控制
> 手動操作
> USB 和 GPIB 接口

EMTEST VCS500技術(shù)細節(jié)
組合波形 1.2/50US - 8/20US
開路電壓 160V - 4,400V ± 10%
波前時間 1.2us ± 30%
脈沖半峰值時間 50us ± 20%
短路電流 zui大 2,200A ± 10%
波前時間 8us ± 20%
脈沖半峰值時間 20us ± 20%
極性 正/負/交替
計數(shù)器 1 - 30,000 或無限
觸發(fā)
觸發(fā)方式 自動,、手動、外部
CRO 觸發(fā) 示波器 5V 觸發(fā)信號
同步 0° - 360°,，分辨率 1°
重復(fù)率 1s - 999s,，取決于電壓
輸出
直接輸出 通過高壓連接器，Zi = 2ohm
連接外部浪涌耦合網(wǎng)絡(luò)
CDN 1-N4 內(nèi)置單相耦合網(wǎng)絡(luò)
耦合方式 L-L,，2ohm 阻抗
L（s）-PE,，12ohm 阻抗
DUT 供電 交流: 250V/16A; 50/60Hz
直流: 250V/10A

EMTEST VCS500測試程序
快速啟動 即刻啟動，簡單迅速
用戶測試程序 N 個脈沖后改變極性
N 個脈沖后改變電壓
N 個脈沖后改變相角
標準測試程序 符合 IEC 61000-4-5 標準
符合 IEC 61000-6-1,、-6-2標準
手動設(shè)置標準測試程序
服務(wù) 服務(wù),、設(shè)置、自測
接口
串行接口 USB
并行接口 IEEE 488,、地址 1 - 30
安全
安全電路 控制輸入 （24Vdc）
警示燈 浮動輸出接觸

EMTEST VCS500一般數(shù)據(jù)
尺寸,、重量 19"/3HU，約 20kg
供電電壓 115/230V +10/-15%
保險絲 2x2AT （230V） 或
2x4AT （115V）
電源線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
CNI 503A 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，用于電快速瞬變
脈沖群和浪涌測試,，3x440V/16A
CNI 503A2 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，用于電快速瞬變
脈沖群和浪涌測試,，3x440V/32A
CNI 503A3 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，用于電快速瞬變
脈沖群和浪涌測試，3x440V/63A
CNI 503A4 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，用于電快速瞬變
脈沖群和浪涌測試,，3x440V/100A
CNV 503 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，用于浪涌測試,，
3x440V/16A
CNV 503S1 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，用于浪涌測試,，
3x440V/32A
CNV 503S2 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，用于浪涌測試,，
3x440V/63A
CNV 503S3 三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，用于浪涌測試，
3x440V/100A
信號線/通訊線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
CNV 504N 4 線信號線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，符合 IEC
61000-4-5 標準 fig. 11 & 12
CNV 504S1 4 線通訊線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，符合 IEC
61000-4-5 標準 fig. 14
CNV 508N 8 線信號線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，符合 IEC
61000-4-5 標準 fig. 11 & 12
CNV 508S1 8 線通訊線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò),，符合 IEC
61000-4-5 標準 fig. 14
符合 IEC 61000-4-9 標準的脈沖磁場測試
天線 磁場線圈,，zui大 5,000A/m

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公司名稱：深圳市華睿高電子技術(shù)有限公司/肖 
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