LE-SP-SPA-ART變角度吸收,、反射/透射光譜測量系統(tǒng)

       Variable-Angle Absorption,Reflection&Transmission System

                                                 
【本套系統(tǒng)為國內(nèi)*套商業(yè)化的全自動變角度吸收、透射&反射光譜測量系統(tǒng)】

功能和應(yīng)用范圍

□本系統(tǒng)可用于測試各種具有角度特性的光學(xué)元件或材料在不同入射角或不同反射角度的透射光譜和反射光譜,；角度變化自動   

控制,，自動校正；

□本系統(tǒng)還可升級專門用于測試各種色散元件（比如：反射光柵,、透射光柵,、特種光柵等等）的衍射效率。測量光柵在不同入

射角情況下的衍射效率,，并可得到光柵在不同波長的衍射角度,。光柵入射角度、衍射角度均可自由自動控制調(diào)整,。

主要規(guī)格及特色

    □光譜范圍寬,，覆蓋了紫外、可見,、近紅外,、中遠(yuǎn)紅外

□系統(tǒng)設(shè)計(jì)成熟，測試精度高,，可靠性好

□入射角可自由控制選擇,，通過旋轉(zhuǎn)樣品改變?nèi)肷浣?/p>

□反射角可自由控制選擇，通過旋轉(zhuǎn)探測裝置改變反射角

□波長范圍：200nm~20um(光譜范圍可選,，常用范圍：350nm-900nm,，200nm-1100nm,，200-2500nm，1um~3.4um,，1~5um,，7um~14um,1um~20um等)

□高穩(wěn)定高亮度光源系統(tǒng)

□優(yōu)化設(shè)計(jì)的光路，雜散光小,，通光效率高

□超大多功能樣品室,，便于操作，有效屏蔽雜散光

□自動角度校正功能

□軟件自動化控制

□系統(tǒng)擴(kuò)展性好,，方便客戶購買基本配置后進(jìn)行系統(tǒng)升級和功能擴(kuò)展

□標(biāo)配功能：可測試各種平面或薄膜光學(xué)元件的不同入射角透射和反射光譜,。

□擴(kuò)展功能1：可測試球面、凹面或者非球面光學(xué)元件或者器件的不同入射角反射,、透射光譜

□擴(kuò)展功能2：可測試平面光柵的衍射角分布

□擴(kuò)展功能3：測試凹面光柵的衍射效率

被測樣品規(guī)格

□光學(xué)元件或者材料類型：平面光學(xué)元件,、器件；各種基底上鍍的薄膜材料,；生物樣品,，周期

性結(jié)構(gòu)樣品等,；

□樣品尺寸范圍：10mm~68mm,；常規(guī)尺寸為40mm、60mm,、64mm等,。特殊尺寸可提供定制。

□樣品形狀：方形或者圓形

□光柵類型：平面反射光柵為主,。如需要測試透射光柵,、凹面光柵、特種光柵,，需要增加對應(yīng)的功能擴(kuò)展模塊,。

□其他衍射器件或光學(xué)材料

□具有角度特性的紅外材料或器件

購買詢價(jià)或技術(shù)咨詢，歡迎我司:　　

                     ：177 2251 0197（直線）,；

                    ：[email protected]

注意：1.需要更詳細(xì)資料,，請我司實(shí)驗(yàn)儀器事業(yè)部，:（直線）或（總機(jī)）,，或加服務(wù):,，或發(fā)郵件到[email protected] 或 [email protected]索取報(bào)價(jià)單。

      2.如果對產(chǎn)品規(guī)格有特殊要求,，我們可根據(jù)您的實(shí)驗(yàn)或測試要求提供定制產(chǎn)品服務(wù),，并且提供系統(tǒng)解決方案，歡迎,。

理歐光電：您身邊的光電專家,！為您的科研實(shí)驗(yàn)保駕護(hù)航,！

我司主要產(chǎn)品明細(xì)一覽：

1,激光器:波長范圍200nm-12um（紫外激光器、可見光激光器,、紅外激光器,、近紅外激光器、中遠(yuǎn)紅外激光器,，拉曼激光器,，拉曼激光器，超窄線寬激光器,、單頻激光器,、單縱模激光器、高速調(diào)制激光器,、脈沖激光器,、HeNe氦氖激光器、HeCd氦鎘激光器,，相干光源,，干涉全息用激光器，半導(dǎo)體激光器,，固體激光器,，熒光激發(fā)用激光器，氣體吸收激光器)

主要波長有：（213nm,，266nm,，325nm，355nm,，375nm,，405nm，410nm,，414.8nm,，415nm，430nm,，435nm,，440nm，442nm,，445nm,，

457nm，473nm,，488nm,，491nm，500.8nm,，510nm,，520nm,，523.5nm，526nm,，532nm,，540nm，542nm,，543nm,，556nm，561nm,，

589nm,，593.5nm，632.8nm,，633nm,，635nm，642nm,，650nm,，658nm，660nm,，671nm,，690nm,730nm,750nm,780nm,785nm,790nm,793nm,795nm,

808nm,830nm,850nm,870nm,890nm,905nm,910nm,914nm,915nm,946nm,980nm,1030nm,1053n,1064nm,1130nm,1160nm,1310nm,1319nm,

1342nm,1420nm,1425nm,1440nm,1450nm,1470nm,1480nm,1490nm,1500nm,1530nm,1550nm,1570nm,1620nm,3390nm,3.42um,3.55um,3.8um，4.05um-4.8um,，454-4.62um,，5.2-5.3um,，7.7um,，7.9um-8.1um，8.35um,，8.6um-8.7um,，9.15um-9.55um，9.5um-9.6um,，1.9um-10um IR Laser...)

2,光譜儀器：光譜范圍200nm-22um(單色儀,，光譜儀，紅外光譜儀,，中遠(yuǎn)紅外光譜儀,，成像光譜儀，拉曼光譜儀,，低波數(shù)拉曼光譜儀,，宏光路拉曼光譜，熒光光譜儀,，顯微熒光光譜儀,，顯微拉曼光譜儀,，光鑷?yán)烧{(diào)諧單色光源系統(tǒng),，光電探測器光譜響應(yīng)測量系統(tǒng),，光致發(fā)光PL光譜測試系統(tǒng)，熒光光譜測試系統(tǒng),，變角度光譜系統(tǒng),，角分辨光譜系統(tǒng)，變角度紅外光譜系統(tǒng),，角分辨紅外光譜系統(tǒng),，可變角度透射、反射,、吸收光譜系統(tǒng),，發(fā)射光譜系統(tǒng)，高光譜系統(tǒng),，光譜成像系統(tǒng),，光纖光譜儀，定制光電測試系統(tǒng),，定制光譜測試系統(tǒng),，定制各種光電弱信號檢測系統(tǒng)...)

3,光源:波長范圍185nm-28um（紫外光源，氘燈光源,，可見光光源,，溴鎢燈光源，氙燈光源,，汞燈光源,，汞氙燈光源，碳化硅光源,，近紅外光源,，中紅外光源，遠(yuǎn)紅外光源,，紅外光源,，LED光源，光譜輻射標(biāo)定光源,，標(biāo)準(zhǔn)光源,，均勻光源，復(fù)合光源,，紫外可見紅外光源,，連續(xù)可調(diào)單色光源，可調(diào)光源,，光纖輸出光源,，非相關(guān)光源....）

4,，光電探測器：響應(yīng)光譜范圍185nm-28um（多通道探測器 ：CCD相機(jī)，EMCCD相機(jī),，CMOS相機(jī),，顯微鏡相機(jī)，科研級相機(jī),，ICCD相機(jī),，紫外可見光相機(jī)，近紅外相機(jī),，紅外相機(jī),，光譜相機(jī)；單通道探測器：Si硅探測器,，PMT光電倍增管,，APD雪崩二極管探測器，Ge鍺探測器,，InGaAs銦鎵砷探測器,，InAs砷化銦探測器，PBS硫化鉛探測器 ,，PbSn錫化鉛探測器,，InSb碲化銦探測器，MCT碲鎘汞光導(dǎo)型探測器,，PE熱釋電探測器,，IR紅外探測器，位置傳感器,，高速探測器...）

5,光學(xué)平臺：各種尺寸隔震光學(xué)平臺（光學(xué)平板,，面包板，精密光學(xué)平臺,，隔震光學(xué)平臺,，主動隔震光學(xué)平臺，被動隔震隔震光學(xué)平臺,，氣墊精密隔震光學(xué)平臺，自平衡光學(xué)平臺,，大理石光學(xué)平臺..）

6,，光功率計(jì)：響應(yīng)光譜范圍185nm-28um功率范圍1pW-200W,能量范圍1uJ-20J（光功能計(jì)，能量計(jì),，功率能量計(jì),，激光功率計(jì)，高靈敏度功率計(jì),，大功率激光功率計(jì),，大能量激光能量計(jì),，手持式功率計(jì)，臺式功率計(jì)...）

7,，弱信號檢測儀器（鎖相放大器,，前置放大器，光學(xué)斬波器,，調(diào)光片,，光閘，光學(xué)快門,，皮安表,，2400系列數(shù)字源表...）

8，光電機(jī)械（光學(xué)鏡架,，光學(xué)調(diào)整架,，光具座，手動位移臺,，電控位移臺,，um微米位移臺，nm納米位移臺,，多維度控制器,，定制光學(xué)精密機(jī)械調(diào)整系統(tǒng)....）

9，光量測儀器（亮度計(jì),、照度計(jì),、輻照度計(jì)，光譜輻照度計(jì)..)