Dimension FastScan

世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡

掃描速度的全新詮釋,，擁有zui高的掃描分辨率，*異的儀器檢測性能
    Dimension FastScan^TM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope,，AFM）,，在不損失Dimension  Icon 超高的分辨率和的儀器性能前提下,，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新,，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。

    為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求,，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性,，不影響儀器操作成本的前提下,，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望,。當(dāng)您對樣品進(jìn)行掃描時,，無論設(shè)置實(shí)驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像,，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像,。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能,。

     高效率   

• 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,，自動激光調(diào)節(jié)    和檢測器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針,，大大縮短了實(shí)驗時間,。

• 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)*結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗數(shù)據(jù)  的可信度和可重復(fù)性,。

     高分辨率     

• Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時,，延長了探針的使用壽命。

• 掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingMode^TM圖像,，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像,。

• 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平,。

• 在任何樣品上均有表現(xiàn)

• 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管*地降低了Z方向噪音,，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率,，可得到超高分辨的真實(shí)圖像,。

• Fast Scan可以對不同樣品進(jìn)行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描,。

   
Dimension Fastscan是世界上*臺將掃描速度,、分辨率、精確度和噪音控制*結(jié)合的AFM,，真正實(shí)現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用,。為了實(shí)現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升,，Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善。
 

■采用zui低熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù),，提高了系統(tǒng)的固有振動頻率,。
■應(yīng)用新的NanoScope控制器，為機(jī)器提供了更高的帶寬,。
■開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝,，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz,。
■采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件,，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術(shù)上獲得了重大突破,。
■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度,，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM,。
■以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高,，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。
■在ScanAsyst模式中,，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片,，即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向,，探針在Contact模式中移動速度可達(dá)到12mm/s,，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達(dá)到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%,，真正使Fastscan成為了世界上*臺快速掃描AFM,。
■ 自動的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO,，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征,。
的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下,，得到的激光信號調(diào)節(jié),。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計與210mm大尺寸樣品臺結(jié)合,，消除了樣品尺寸的限制,，同時維持了zui低的噪音和熱漂移水平。
 

    AFM*性能
 
    Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率,，與Bruker*的電子掃描計算方法相結(jié)合,，提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術(shù)的革新,，配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器,，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平,，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上,，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平,。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量,，實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量,。Icon 掃描管比當(dāng)今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合,，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果,。
 
   杰出的生產(chǎn)力
 
    使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標(biāo)志性的符號,。FastScan把此平臺引入了更的新水平,，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程,，使其操作過程比以往*的AFM技術(shù)更加簡便,。可以使初學(xué)者在操作中,，同樣得到專家級的圖像,。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整,。Dimension FastScan的每個方面—從*開放式針尖樣品空間,，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率,，全新的直觀用戶界面,，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能,，保證您在zui短時間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版,。

    世界上zui靈活的平臺
 
    Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能，堅固性和靈活度,，使得這臺儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量,。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能,，將AFM強(qiáng)大的功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升,，以迎合您不斷增長的研究需求,。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件,。

    的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
 
    出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求
 
    Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù),，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù),。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù)，模式和模式增強(qiáng)功能,，Dimension FastScan以其*的性能優(yōu)勢,，幫助您完成更高水平的納米研究。
 
    材料成像
 
     FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式,，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像,。使用FastScan技術(shù)，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時間,。

  
    利用zui短時間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果
 
    無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章,，Dimension FastScan可比以前快幾十倍*百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片,。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析。
 
    樣品篩選

    利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信,，進(jìn)行樣品常規(guī)篩選,。無論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是*的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程,。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時,，高精準(zhǔn)度成為*條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選,，這可能成為FastScan的一個新用途,。
 
    動態(tài)應(yīng)用范例
 
    另一種常見的應(yīng)用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程,。無論是在空氣中還是在液體中,，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是研究價值的。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗提供了極為便利的條件,。




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