DERUN科技研發(fā)的EDX-2800型X熒光分析儀具有分析精度高,、測試速度快、測試簡單等優(yōu)點,?？?RoHS/WEEE相關管控要求，符合電工委員會IEC62321標準及中國環(huán)保標準所規(guī)定的技術要求和技術規(guī)范,。

一．應用領域：

1．檢測以黃金,、鉑金、K金飾品,、銀等貴金屬,、銅合金、鐵合金,、及其它合金類產(chǎn)品：鉛黃銅,、鎳黃銅、錳黃銅,、錫黃銅錫青銅,、鎳白銅、鋅白銅等樣品,。

2. 分析Au,、Ag、Rh,、Cd,、Ru、Pt,、Ir,、Cu,、Pb、Fe,、Ni,、Mn、Zn,、Sn,、Bi、Sb,、As等元素,。

3．對RoHS指令中有害元素（Pb，Cd,，Hg,，Br，Cr）進行精準測試,，可直接測試CL元素,。

3．金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定分析,。

二．性能特點:

1.檢測樣品為規(guī)則樣品與不規(guī)則樣品,，包括塊狀、片狀,、線狀,。樣品類型為塑膠、金屬,、粉末,、液體。

2.高壓電源,。zui大功率50W,。電壓0-50 KV，電流0-1000uA,。

3.高效X光管,。zui大功率50W，管壓5-50KV,；管流電流0-1000uA,。

4.進口原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線性,、能量分辨率和能譜特性,，較高的峰背比。

5.高信噪比的電子線路系統(tǒng),。

6.八個準直器和四個濾光片的電動組合,，軟體自動切換,，滿足各種測試方式的應用，降低分析元素附近的背景強度,，提高分析zui低限,。

7.多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收,、增強效應得到明顯的抑制,，提高分析準確度。

8.內置高清晰攝像頭,，有效的實時觀察測試區(qū)域狀況,，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分,。

9.載物測試平臺,，配有微調裝置，實現(xiàn)檢測物的定位與檢測區(qū)域的調整,。

10.小樣品腔尺寸(閉倉門測試)：460×298×150mm,。大樣品腔尺寸(開倉門測試)：無限制，部分取代手持式功能,。

11.高效三維散熱系統(tǒng)：大幅度提供儀器的可靠性、穩(wěn)定性,。

12.輻射安全系統(tǒng)：隱蔽式設計,、軟件、硬件三重射線防護系統(tǒng),。

13. 分析軟件：的XRF分析軟件,，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）,、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法,，全面保證測試數(shù)據(jù)的準確性。

三．技術指標：

1.測量元素范圍：從硫（S）到鈾（U）,。
2.元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素,，分析范圍不同）。
3.同時分析元素：一次性可測幾十種元素,。

4.測量時間：60秒-200秒,。

5.樣品類型：塑膠、金屬,、粉末,、液體。
6.zui低檢出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm ,。

7.工作環(huán)境：溫度為溫度 15～30℃濕度≤85% （不結露）,。
8.電源：交流220V±5V,選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源,。
9.*分辨率能達到149eV±5。
10.樣品腔尺寸：460×298×150mm,。

11. 外觀尺寸：550×416×333mm,。

12.電源：AC 220V～240V、50Hz,。

13.額定功率：800W,。

14.重量：約45KG.

四．主體配置：

1.高效薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高壓電源,。
3.原裝美國高性能電制冷Si-Pin半導體探測器,。

4.大樣品測量腔。
5.移動平臺,。

6.光路增強系統(tǒng),。
7.高信噪比電子線路系統(tǒng)。
8.高清晰攝像頭,。
9.自動切換型準直器和濾光片,。
10.三重安全保護模式。
11.整體鋼架結構,，力度可靠的保證,。

12.計算機、液晶顯示器,、激光打印機,。

13.分析軟件。

14.標準物質：銀校正標樣等,。

15.儀器的其它配置：樣品杯,、測試薄膜、保險絲