納米粒度與Zeta電位分析儀

NanoPlus是*的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度,、Zeta電位和分子量的儀器,。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用,、分析范圍廣,、帶有交互式軟件和多個(gè)樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用,。

高濃度Zeta電位測(cè)試

       按常規(guī)方法,，由于多重散射（A）現(xiàn)象和透光性問(wèn)題，我們不能正確測(cè)量濃懸浮液的散射光,。FST是通過(guò)透明電極改變散射光方向從而檢測(cè)散射光的一種新方法,。其檢測(cè)光路徑很短，減少了多重散射的影響,。因此,，NanoPlus可以測(cè)定0.00001%到40%高濃懸

浮液的Zeta電位。

真實(shí)電泳遷移率的測(cè)定

       當(dāng)測(cè)量電泳時(shí),，樣品池壁上的電荷會(huì)導(dǎo)致電滲。當(dāng)樣品池壁帶負(fù)電荷時(shí),，帶正電荷的離子和粒子被吸引,，聚集在池壁周?chē)３乇谥車(chē)囊后w將向負(fù)極方向運(yùn)動(dòng),，樣品池中心的液體向相反的方向（正極）運(yùn)動(dòng),。

在電泳過(guò)程中產(chǎn)生的電滲會(huì)干擾電泳遷移率的正確測(cè)量。 NanoPlus檢測(cè)樣品池中多個(gè)點(diǎn)的電泳遷移率以獲得在不受電滲影響的靜止層處的電泳遷移率,。即使是在樣品吸附或者沉淀造成的不對(duì)稱(chēng)電滲的條件下,，也能獲得高精度的電泳遷移率。

寬粒度測(cè)試范圍

       測(cè)量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm-12.3μm,，濃度范圍0.00001%-40%,，分子量zui小到250道爾頓，雙相關(guān)器,，提供高靈敏度多種樣品的測(cè)試,。

多種樣品池
      提供多種樣品池用于納米粒度與Zeta電位的測(cè)試，包含固體平表面樣品池用于涂層,、薄膜和處理過(guò)的玻璃,。

服務(wù)方式支持：通過(guò)或傳真形式，將安排專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員在規(guī)定時(shí)間內(nèi)對(duì)設(shè)備故障定位,，并拿出解決方案,，zui終排除故障； 現(xiàn)場(chǎng)支持：通過(guò)不能診斷的故障，將安排工程師赴現(xiàn)場(chǎng)分析原因,，制定方案,，排除故障。服務(wù)承諾 服務(wù)響應(yīng)及時(shí) 解決問(wèn)題有效 服務(wù)過(guò)程規(guī)范 服務(wù)內(nèi)容全面