低溫速凍測試儀-詳細(xì)資料報價歡迎垂詢

一,、低溫速凍測試儀適用范圍：

   速凍食品是通過急速低溫(-18℃以下)加工出來的速凍食品，食物組織中的水分,、汁液不會流失,，而且在這樣的低溫下，微生物基本上不會繁殖,，食品的安全有了保證,。另外速凍試驗箱對工業(yè)航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件,，電子,、電器零組件，塑料,、化工業(yè),、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐寒、耐干性能及研發(fā),，質(zhì)量管理工程之試驗規(guī)范,。。

二,、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件,；

2.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
3.GB2423.1低溫試驗,、試驗A

4.GB/T2423.34-2005低,、溫度循環(huán)試驗。

5.GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗,。A：低溫試驗方法》.

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三,、技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍 ： 常溫~-20 ℃/常溫~-40 ℃/常溫~-50 ℃/常溫~-60 ℃/常溫~-70 ℃/

常溫~-86 ℃。  
2.控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃  
3.分布均勻度 ：±1.5℃  
4.溫度偏差：  ≤±2℃                          

5.正常降溫時間： +20~-20℃小于45分鐘,，+20~-40℃小于60分鐘,， +20~-50℃

小于65分鐘，+20~-60℃ 小于75 分鐘,，+20~-70℃小于85分鐘,，+20~-86℃小于

 100分鐘非線性空載.

四,、工作內(nèi)尺寸：  　
ZT-CTH-80L  　   W寬50XH高40XD深40cm

ZT-CTH-120L 　  W寬60XH高50XD深40cm
ZT-CTH-150L 　  W寬60XH高50XD深50cm
ZT-CTH-225L 　  W寬75XH高60XD深50cm
ZT-CTH-306L 　  W寬85XH高60XD深60cm

ZT-CTH-408L 　  W寬85XH高60XD深80cm 

ZT-CTH-800L 　  W寬100XH高100XD深80cm

ZT-CTH-1000L　 W寬100XH高100XD深100cm

五、控制器：

   采用進(jìn)口微電腦液晶顯示薄膜按鍵型,，英文表示溫度可程控器,，具100組程序1000段次記憶，每段 99Hour59Min,，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定,，并附多組PID控制功能,。