美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀

Microtrac噴霧粒度分析儀技術參數(shù)：

測量范圍：0.5um一2,000um

測量方法：靜態(tài)激光衍射分析技術,，全量程米氏理論處理

系統(tǒng)自動對焦，實時檢測,，分析時間短

自動觸發(fā),，可實現(xiàn)脈沖噴霧測量

數(shù)據(jù)處理靈活方便，兼容Windows系列版本

可選型號：SPR3500A（標準型）,SPR1500A（大角度）

可選附件干法噴霧器（PD--10S),，濕法分散器（SC一13),運動底座(MB-600）

美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上有名的激光應用技術研究和制造廠商,，其良好的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料,，冶金,，制藥，石油,，石化,，陶瓷，軍工等領域,，并成為眾多行業(yè)的質量檢測和控制的分析儀器,。Microtrac Inc.公司非常注重技術創(chuàng)新，近半個世紀以來,，一直著激光粒度分析的前沿技術,，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務，使得其不斷超越自我,，推陳出新,，。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,，經過多年的市場調研和潛心研究,，開發(fā)出一代Zetatrac微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,，無需傳統(tǒng)的比色皿,，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術相比,，Zetatrac采用良好的“Y”型光纖探針光路設計,，配置膜電極產生微電場，操作簡單,，測量迅速,，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,，*消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失,，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異,，分散介質的影響,，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠,，重現(xiàn)性好,。

美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀

天津西納貿易有限公司由熟悉歐洲工業(yè)體系和精通營銷的海外歸國團隊于2012年創(chuàng)辦。公司專注于歐洲工業(yè)品在中國的平臺化供應,，專業(yè)為鋼鐵,、有色金屬、電力,、石化,、采礦、汽車,、機械設備,、電氣儀表、食品飲料,、橡膠制品、醫(yī)藥,、紡織,、造紙、印刷,、水泥,、玻璃、環(huán)境設備等生產制造型企業(yè)提供歐洲高品質工業(yè)產品,、成套設備和技術應用服務,。
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1,、KELLER美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀
測溫儀：CellaTemp PK 21 AF 1
電纜-測溫儀：VK 02/L AF 1
2、PERMA
自動注油器：100800 Star LC M120 mit Staburags NBU12/300KP SF32
3,、FISCHER
壓差開關/壓差變送器：DS21030W01AK0W00
壓差開關/壓差變送器：DE45D70040PK06MWR0500
壓差開關/壓差變送器：DE45D90040PK06MWR0500
壓差開關/壓差變送器：DE45N30040PK06MWR0500
4,、FEZER
真空吸盤：VZSP-FSD200Z-EPDM-G
5、Gather
泵：2MA-J/8/G-SS/IG12/DLC/   Artikel-Nr.:  28521
6,、GEMUE
球閥：615 10D17341311/N 1500
安裝支架：1216S01Z05100012  F. INITIATOREN M12X1
7,、JANITZA
電能表：UMG 96 RM-P für
8,、EFFBE
氣墊：SLM 12B M12*90  FB61026214
9、TAPFLO
氣動隔膜泵：TR20TTT-7PV  PET/FKM Steuerventil

我公司是一家集研發(fā),、工程,、銷售、技術服務于一體的現(xiàn)代化企業(yè),，是國內自動化領域競爭力的設備供應商,。專業(yè)采購歐洲工控產品、備品備件,，擁有很大的優(yōu)勢：
1,、總部位于德國，產品源頭采購,，*,。
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