導電性薄膜方阻測試儀測定方法

  標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》

顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率

測試方式: 普通單電測量

工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結(jié)果）

選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測試平臺

測試探頭：   探針間距選購：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

導電性薄膜方阻測試儀測定方法

配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,，無需人工計算,，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇,，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出,，結(jié)構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全,、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動生成報表