GEM60P4-83-HE高純鍺探測器
- 公司名稱 北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司
- 品牌 ORTEC/奧泰克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/8 9:53:34
- 訪問次數(shù) 1435
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 能譜儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保 |
GEM60P4-83-HE高純鍺探測器
半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測量技術(shù)與產(chǎn)品,,不僅是核結(jié)構(gòu),、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具,,而且在核電,、環(huán)境、檢驗(yàn)檢疫,、生物醫(yī)學(xué),、天體物理與化學(xué)、地質(zhì),、法學(xué),、考古學(xué)、冶金和材料科學(xué)等諸多科學(xué)與社會(huì)領(lǐng)域得到了越來越廣泛的應(yīng)用,。
四十多年來,,ORTEC 探測器種類不斷豐富、性能不斷提高,,在探測效率上,,能提供相對(duì)效率200%的P型同軸探測器,、175%效率的P型優(yōu)化(“寬能”)同軸探測器和100%效率的N型探測器。
一,、 探測器機(jī)理與各指標(biāo)的簡要意義
放射性核素產(chǎn)生的γ光子和X射線,,其能量一般在keV至MeV范圍。由于其不帶電荷,,通過物質(zhì)時(shí)不能直接使物質(zhì)產(chǎn)生電離,,不能直接被探測到,因此γ和X射線的探測主要依賴于其通過物質(zhì)時(shí)與物質(zhì)原子相互作用,,并將全部或部分光子能量傳遞給吸收物質(zhì)中的一個(gè)電子,。這種相互作用表現(xiàn)出光子的突變性和多樣性,在吸收物質(zhì)中主要產(chǎn)生三種不同類型的相互作用:光電效應(yīng),、康普頓效應(yīng)或電子對(duì)效應(yīng),,而產(chǎn)生的次級(jí)電子(光電子)再引起物質(zhì)的電離和激發(fā),形成電脈沖流,,電脈沖的幅度正比于γ和X射線的能量,。三種效應(yīng)中,光電效應(yīng)中γ光子把全部能量傳遞給光電子而產(chǎn)生全能峰,,是譜儀系統(tǒng)中用于定性定量分析的主要信號(hào);而康普頓效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)則會(huì)產(chǎn)生干擾,,應(yīng)盡可能予以抑制,。
在譜儀中,探測器(包括晶體,、高壓和前置放大器)實(shí)際上是一個(gè)光電轉(zhuǎn)換器,,將光子的能量轉(zhuǎn)變成幅度與其成正比的電脈沖。然后通過譜儀放大器將該脈沖成形并線性放大,,再送入模數(shù)變換器即ADC中將輸入信號(hào)根據(jù)其脈沖幅度轉(zhuǎn)變成一組數(shù)字信號(hào),,并將該數(shù)字信號(hào)送入多道計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng),由相關(guān)軟件形成譜圖并進(jìn)行分析,。
GEM60P4-83-HE高純鍺探測器
以下簡要闡明所涉及的相關(guān)物理概念:
1,、相對(duì)效率、效率與實(shí)際效率
相對(duì)探測效率(即標(biāo)稱效率)的定義:按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,,Co-60點(diǎn)源置于探測器端面正上方25cm處,,對(duì)1.33MeV能量峰,半導(dǎo)體探測器與3"×3" NaI探測器計(jì)數(shù)率的比值,,以%表示,。效率:Co-60點(diǎn)源置于探測器端面正上方25cm處,1.33MeV能量峰處所產(chǎn)生的實(shí)際探測效率(3"×3"NaI探測器,,此效率為0.12%),。實(shí)際探測效率:取決于感興趣核素所在能量峰、探測器的晶體結(jié)構(gòu)、實(shí)際樣品的形狀,、體積及探測器與樣品間的相對(duì)位置關(guān)系等因素,。
針對(duì)低活度樣品的測量,通過提高實(shí)際探測效率以提高測量靈敏度是選擇探測器的出發(fā)點(diǎn),。
2,、 能量分辨率(FWHM):探測器或系統(tǒng)對(duì)不同能量γ和X射線在探測中的分辨能力,通常以半高寬(FWHM,,全能峰高度一半處所對(duì)應(yīng)的能量寬度)表示,。比如對(duì)于1.33MeV能量峰,按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,,Co-60點(diǎn)源置于探測器端面正上方25cm處,,在計(jì)數(shù)率為1kcps時(shí)的全能半高寬。由于高純鍺探測器的分辨率本身已經(jīng)相當(dāng)精銳,,除了在中子活化,、超鈾元素分析等少數(shù)應(yīng)用中,能量分辨率已不是首要考慮的因素,。更加實(shí)際的分辨率問題是在高計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)率動(dòng)態(tài)變化(如中子活化,、裂變產(chǎn)物、在線監(jiān)測,、現(xiàn)場測量)情況下,,如何保證分辨率盡可能的穩(wěn)定。
3,、 康普頓效應(yīng)與峰康比
γ光子與探測器中的半導(dǎo)體原子的電子相互作用時(shí),,將部分能量傳遞給電子,剩余能量的γ光子以一定的角度散射出去,,成為康普頓散射,。康普頓效應(yīng)的結(jié)果會(huì)導(dǎo)致在低能部分的全能峰下方形成康普頓坪,,成為相關(guān)能量峰的本底或甚至淹沒此能量峰,。
峰康比:對(duì)1.33MeV能量峰,指其全能峰的中心道計(jì)數(shù)與1.040MeV至1.096MeV區(qū)間內(nèi)康普頓坪的平均道計(jì)數(shù)之比,。
4,、 峰形
表征全能峰對(duì)稱性之指標(biāo),通常以FTWH(十分之一全高寬)與FWHM(半高寬)之比表示,。為嚴(yán)格定義峰形,,ORTEC對(duì)部分探測器同時(shí)提供F.02WH(五十分之一全高寬)與FWHM(半高寬)之比。
二,、 ORTEC所有同軸探測器全面嚴(yán)格保證能量分辨率,、峰康比和峰形指標(biāo),。
1、ORTEC HPGe與Si(Li)探測器的分類與特點(diǎn):
GEM系列: P型同軸HPGe探測器
GEM Profile系列: P型優(yōu)化同軸HPGe探測器
同一型號(hào)的探測器采用相同的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸,,從而保證了相當(dāng)*的效率曲線,;
GEM-M系列:專門設(shè)計(jì)適用于馬林杯狀樣品的測量,探測器端窗直徑與晶體有效厚度*,;
GEM-F系列:采用扁平結(jié)構(gòu)晶體(直徑>長度),,對(duì)于濾紙、濾膜等薄層樣品的測量能獲得的實(shí)際探測效率,;
GEM-FX系列:有著-F系列類似的晶體結(jié)構(gòu),,但采用超薄的接觸極和碳纖維端窗,能量響應(yīng)范圍10keV至10MeV,;還可作為超鈾元素測量的理想選擇,;提供15%,20%和50%三種探測效率選擇,;
GEM-MX系列:結(jié)合-M與-FX工藝,,能量響應(yīng)范圍10keV-10MeV,尤其適合于馬林杯狀樣品,;提供38%, 66%,,115%和175%四種效率選擇;
GEM-FX與GEM-MX在整個(gè)10keV至10MeV(“寬能”)的能量范圍內(nèi)都有十分優(yōu)異的能量分辨率,,從指標(biāo)與實(shí)用意義上實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)P型與N型探測器的“優(yōu)勢組合”,。
Actinide-85: 肺部計(jì)數(shù)HPGe探測器:
采用GEM-FX8530探測器工藝,用于肺部計(jì)數(shù)探測器,;采用超低本底冷指材料和整體碳纖維封裝結(jié)構(gòu)。
SLP系列: X-射線Si(Li)探測器:
用于X-射線能譜測量,;能量響應(yīng)范圍1keV至30keV,;有效面積12.5至200mm2。
對(duì)于700keV以下的能量峰,,120cc體積的井式探測器已能很好的滿足探測效率的要求,,增大探測器體積并沒有太多的實(shí)際意義。
2,、探測器的附屬選項(xiàng)及其意義