概要

SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,，zeta電位的檢測,，分子量（Mw）以及第二維利系數（A₂）的測定。SZ-100的典型應用包括：納米顆粒，膠體,，乳液以及亞微米懸浮液,。

顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理（DLS）。根據樣品的物理性質,，動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm,。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在,。檢測上限受樣品濃度影響,，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位,。將樣品注入一次性樣品池,，通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標,。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,，斥力較大，較難發(fā)生團聚,，溶液保持穩(wěn)定,。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,，發(fā)現zeta電位為零時（就是說,，樣品處于等電點），就要考慮選擇*條件將顆粒進行絮凝和分離,。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質,、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,，然后使用系統的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,，從而計算出Mw和A₂。

特征

將粒度,、zeta電位,、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

寬檢測范圍，寬濃度范圍

雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

自動滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定