介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀附表一,介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表

BH916測試裝置                                         GDAT高頻Q表

平板電容極片 Φ50mm/Φ38mm                            可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

間距可調(diào)范圍≥15mm                                    頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm                              主電容調(diào)節(jié)范圍30-500/18-220pF

測微桿分辨率0.001mm                                  主調(diào)電容誤差<1%或1pF

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                     Q測試范圍2～1023

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點

1,、《BH916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件,，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成,。

平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。

通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化的量化,，測得絕緣材料的損耗角正切值,。

從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。

BH916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,，精密的加工設(shè)計,、精確的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能,，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差,。

2、基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表,，其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計代表了行業(yè)的zui高成就,，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能,。

該表具有*人機界面,，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L,、主調(diào)電容器C,、測試頻率F、諧振趨勢指針等,。

高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,，頻率精度高達(dá)1×10-6。

國標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),。

把被測材料作為平板電容的介質(zhì),，與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度,。

因而Q表法的測試結(jié)果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定,、操作簡便,。

操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關(guān)注量程和換算,，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,，它無疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具,。

3、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT),，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集,、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化，tanδ 測量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理,，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性,，是人工讀值和人工計算*的。

4,、一個高品質(zhì)因數(shù)（Q)的電感器是測量系統(tǒng)*的輔助工具,，關(guān)乎測試的靈敏度和精度，在系統(tǒng)中它與平板電容（BH916）構(gòu)成了基于串聯(lián)諧振的測試回路,。

本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成,，以適配不同的檢測頻率。

使用方法

高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器,，為了提高測量精度,，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外,，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法,。

1．測試注意事項

a．本儀器應(yīng)水平安放；

b．如果你需要較精確地測量,，請接通電源后,，預(yù)熱30分鐘；

c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,，當(dāng)接近諧振點時請緩調(diào),；

d．被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短，足夠粗,，并應(yīng)接觸良好,、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差,；

e．被測件不要直接擱在面板頂部,，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊,；

f．手不得靠近試件,，以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差，有屏蔽的試件,，屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱,。

2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

  A．直接法

  a．將被測線圈接在“L_x”接線柱上；

  b．選擇適當(dāng)?shù)墓ぷ黝l段和工作頻率,；

  c．先調(diào)調(diào)諧電容器到諧振點,，即Q表讀數(shù)達(dá)zui大,，此讀數(shù)即為被測電感的有效Q值(Q_e)，若需得到被測電感的真實Q值（Q_T）,，則應(yīng)先測出線圈分布電容C₀,，然后照下式修正

C₁是調(diào)諧電容器諧振時讀數(shù)，如諧振時C₁的讀數(shù)很大,，C₀只占很小比例,，則有效Q值(Q_e)和真實Q值(Q_T)差別可以忽略。

當(dāng)Q值量程選擇自動切換時,，在調(diào)諧時,，如遇量程自動轉(zhuǎn)換，應(yīng)停頓一下,，待Q值穩(wěn)定后,，根據(jù)讀數(shù)值變大或變小，確定繼續(xù)調(diào)電容的方向,。

B．變?nèi)莘?/span>

a．照直讀法“a-d”進(jìn)行,，記下諧振時電容讀數(shù)C₁和Q₁；

b．調(diào)節(jié)主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān),，使Q值二次指示均為Q₁的0.707時,，記下此時兩次電容讀數(shù)的差數(shù)ΔC，

倘要得到精確結(jié)果,，則線圈的分布電容應(yīng)加在C₁之內(nèi),，并應(yīng)使主調(diào)電容作多次偏調(diào)，然后取其平均讀數(shù),。

測Q值較高的線圈時,，Q值下降到0.707 Q₁時，電容偏調(diào)很小,，讀數(shù)誤差較大,，這時可將主電容作較大偏調(diào)(10％以內(nèi))，記下偏調(diào)數(shù)ΔC和偏調(diào)后的Q值讀數(shù)Q₂,，這時Q值表達(dá)式為：

C. 變頻法

a．按直讀法“a-d”進(jìn)行,，記下諧振時讀數(shù)C₁和Q₁以及頻率讀數(shù)f₀；

b．改變信號源的頻率使Q值二次指示為Q₁的0.707(一次容性失諧,，一次感性失諧),，記下此時二次頻率讀數(shù)差值Δf，這時回路的真實Q_T為：

考慮到線圈的分布電容時,，線圈的有效Q值為

    變頻法測量Q值一般表達(dá)式為(未考慮分布電容)：

注：Δf是頻率偏調(diào)數(shù),，Q₁為諧振時Q表讀數(shù)，Q₂是偏調(diào)后Q表讀數(shù),。

3．高頻線圈電感值的測量

a．將被測線圈接在“L_x”接線柱上,，接觸要良好；

b．根據(jù)線圈大約電感值,，按所需選一個合適的頻率以保證能諧振,；

c．如要得到真實電感數(shù)（L_T），必須先測得電感分布電容量C₀,，如分布電容較小的話,，在調(diào)到諧振點后，記下主調(diào)電容C₁,，然后再將主調(diào)電容量調(diào)在“C₁+C₀”值上,，這時度盤的電感讀數(shù)乘以對應(yīng)的倍數(shù)，就是所求真實電感讀數(shù),，也可按以下公式計算求得：

f被測電感小于1μH時,，按上法測得電感值還應(yīng)減去儀器中測試回路本身剩余電感“L₀”（A  L0約26nH,，C  L0約7nH）,。

4．高頻線圈分布電容C₀的測量

A．倍頻率法

如線圈的分布電容較大,，可用此法作近似測試。

將被測線圈按在“L_x””接線柱上,，調(diào)調(diào)諧電容器到zui大電容數(shù)值,，調(diào)訊號源頻率到諧振，令諧振時頻率和指示調(diào)諧電容分別是f₁和C₁,。然后將訊號源頻率調(diào)到f₂ (f₂=n f₁),，再調(diào)電容器度盤到諧振點，此時電容讀數(shù)為C₂,，根據(jù)下式即可求出分布電容量（測量時微調(diào)電容到零）

如取n=2,，則為：C₀=（C₁－4C₂）/ 3。

若取不同C₁進(jìn)行多次測量后取一個平均值,，則測試結(jié)果將較為準(zhǔn)確,。

   B．自然頻率法（此法可獲得較準(zhǔn)確的結(jié)果）

   a．將被測線圈接在“L_x”接線柱上；

   b．將微調(diào)電容器度盤調(diào)至零,，調(diào)諧電容器度盤調(diào)到zui大電容值C₁,；

   c．調(diào)訊號源頻率，使回路諧振,，該頻率為f₁,；

   d．取下被測線圈，換上一個能在調(diào)諧電容器調(diào)節(jié)范圍內(nèi)和十倍于f₁頻率諧振的電感,；

   e．訊號源調(diào)到10 f₁位置,，調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器到諧振點；

   f．將被測線圈接在“C_x”兩端,，調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器達(dá)諧振,，此時視電容讀數(shù)是增加還是減小,。若增加，則應(yīng)將振蕩器頻率調(diào)高些,，若減小,，則頻率調(diào)低些；

   g．再取下被測線圈,，調(diào)節(jié)主調(diào)電容達(dá)到諧振,；

   h．重復(fù)步驟“f”、“g”直到某一頻率,，被測線圈接上“C_x”兩端和不接上均不改變諧振點,，這一頻率即為被測線圈的自然諧振頻率f₂，它的C₀數(shù)值為：

C₀=C₁ (f₁／f₂)²

  注：測量中所需輔助線圈可由LKI-l電感組提供便利,。

  5．電容器容量的測量

  A. 在測量范圍內(nèi)的小于主調(diào)電容量的電容器的測量

a．選一個適當(dāng)?shù)闹C振電感接到“L_x”的兩端,；

b．將調(diào)諧電容器調(diào)到zui大值附近，令這個電容是C₁,，如未知電容是小數(shù)值的,，C₁應(yīng)調(diào)到較小電容值附近，以便達(dá)到盡可能高的分辨率,；

c．調(diào)訊號源的頻率,，使測試回路諧振，令諧振器Q的讀數(shù)為Q₁,；

d．將被測電容接在“C_x”兩端,，調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器，使測試電路再諧振,，令新的調(diào)諧電容值為C₂和指示Q值為Q₂,。

被測電容的有效電容為：C_x= C₁－C₂

電容器損耗角正切為：

電容器的有效并聯(lián)電阻為：

C₀為回路諧振電感的自身電容。

B．大于調(diào)諧電容量的電容器用可替代法測量

a. 取一只適當(dāng)容量的標(biāo)準(zhǔn)電容量,，其容量為C₃,，將它接在“C_x”接線柱上；

b．按5A／a-c各測試步驟,；

c．取下標(biāo)準(zhǔn)電容器,，將被測電容接到“C_x”接線柱，調(diào)節(jié)調(diào)諧電容器到諧振,，此時主調(diào)電容量讀數(shù)為C₂,，則C_x可由下式得到：

C_x=C₃+ C₁－C₂

6．Q合格范圍預(yù)置功能使用（AS2853A暫時只能設(shè)置下限值）

Q合格范圍預(yù)置功能特別適用于工廠需大批量測試某同一規(guī)格元件的Q值，當(dāng)該元件Q值超過某一給定值或在一定范圍內(nèi)即為合格,，這時液晶顯示屏顯示“OK”,，儀器同時鳴叫提醒，這樣可減輕工人視力疲勞，同時大大加快了測試速度,。 

維修

1．新購儀器的檢查

新購的儀器能先用LKI-1電感組,，將各個電感在各個不同頻率測試Q值，把測試的情況,，例使用的電感號,、測試頻率Q讀數(shù)、電容讀數(shù)等多次測得數(shù)及測試環(huán)境條件逐一詳細(xì)記錄,，并把記錄保存起來，以供以后維修時作參考,。

LKI-1電感組是測試時作輔助電感用的,，不能把這些電感當(dāng)作高精度的標(biāo)準(zhǔn)電感看待。隨著測試環(huán)境條件不同,，測得電感器Q值和分布電容可能略有不同,。

2．使用和保養(yǎng)

高頻Q表是比較精密的阻抗測量儀器，在合理使用和注意保養(yǎng)情況下,，才能保證長期穩(wěn)定和較高的測試精度,。

a．熟悉本說明書，正確地使用儀器,；

b．使儀器經(jīng)常保持清潔,、干燥；

c．本儀器保用期為18個月,，如發(fā)現(xiàn)機械故障或失去準(zhǔn)確度,，可以原封送回本廠，免費修理,。 

北廣電性能及橡膠塑料常用儀器

WDW 系列  萬能材料試驗機（金屬材料,，非金屬材料，液壓伺服萬能試驗機）

BDJC 系列   電壓擊穿試驗儀（固體絕緣材料電氣介電強度試驗機）

BEST 系列   體積表面電阻率測定儀（可測試固體液體膏體粉末材料）
BEST 系列   碳素材料電阻率測試儀
BES T系列   電線電纜導(dǎo)體半導(dǎo)體材料電阻率測試儀
 M   - 系列    橡膠塑料滑動摩擦試驗機（國標(biāo),，非國標(biāo),，可定制）
 GDAT系列    介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀（可測試固體液體）
 GDAT系列    學(xué)校介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
 GDAT系列    高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
 BQS 系列     工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
 BDH 系列     絕緣材料耐電弧性能試驗儀
 BWK系列     熱變形維卡軟化點溫度測定儀
 BYQ 系列     塑料球壓痕硬度計
 BRS 系列    熔體流動速率測定儀/熔融指數(shù)儀
 BMD系列    計算機控制馬丁耐熱試驗儀