LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品描述：
 LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是*的涂層測(cè)厚儀,。通過(guò)解鎖代碼,，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚,。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求,。
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上,。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害,。
特點(diǎn)概述：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準(zhǔn)選項(xiàng)
◆ 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
◆ 在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆ 零校準(zhǔn)*
◆ 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
◆ 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,，也可以隨時(shí)調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式,，以*形式去完成測(cè)量任務(wù)*
◆ 輸入和極限監(jiān)視*
◆ 在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計(jì)*
◆ 可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
◆ zui小值、zui大值,、測(cè)量個(gè)數(shù),、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
◆ 局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
◆ 在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括
3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量任務(wù)
      基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
      高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
      專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
如果針對(duì)新的測(cè)量要求,，而需要儀器增加新的功能,，可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼,，“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”,，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購(gòu)買新機(jī)器,。
多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,，更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度,。涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求,，我們也可以訂做特殊探頭,。