硬件特點(diǎn)

● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器

● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz

● 高帶寬高輸入阻抗的放大器

● 內(nèi)置FPGA DDS信號(hào)合成器

● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計(jì)

● 電壓控制范圍：±10V,，槽壓為±21V（可擴(kuò)展至±200V）

● 電流控制范圍：±2.0A（可擴(kuò)展至±5.0A）

● 電位分辨率：10μV,，電流分辨率：10pA（可延伸至100fA）

軟件特點(diǎn)

① 數(shù)據(jù)分析

伏安曲線的平滑、積分和微分運(yùn)算,，計(jì)算各氧化還原峰的峰高,、峰面積和峰電位等；極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動(dòng)力學(xué)解析,，計(jì)算Tafel斜率ba,，bc，腐蝕電流密度icorr,，極限擴(kuò)散電流,、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學(xué)噪聲譜計(jì)算功率譜密度,、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f),。

② 實(shí)時(shí)存儲(chǔ)

CorrTest實(shí)時(shí)存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測(cè)試中斷,，中斷之前的數(shù)據(jù)也會(huì)自動(dòng)保存,。

③ 定時(shí)測(cè)量

CorrTest測(cè)試軟件具有定時(shí)測(cè)量功能， 對(duì)于某些需要研究體系隨時(shí)間變化特征時(shí),，可提前設(shè)好測(cè)試參數(shù)與間隔時(shí)間,，讓儀器在無(wú)人值守下自動(dòng)定時(shí)測(cè)量，提高實(shí)驗(yàn)效率,。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

① 交流阻抗

儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過(guò)采樣技術(shù),，具有較強(qiáng)的抗*力，尤其適合于涂層,、混凝土等高阻體系（>109Ω）的交流阻抗測(cè)量,，也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制,。軟件能實(shí)時(shí)顯示開(kāi)路電位，用戶無(wú)需輸入,，即可輸出準(zhǔn)確的極化過(guò)電位,。

② 極化曲線

具有線性極化和Tafel極化曲線測(cè)量功能，用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽(yáng)極回掃電流（鈍化膜擊穿電流）,，來(lái)確定材料的點(diǎn)蝕電位和保護(hù)電位,，評(píng)價(jià)晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線,，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評(píng)價(jià),。

③ 伏安分析

能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）,、階梯伏安（SCV）,、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）,、交流伏安（ACV）,、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積,、峰電流計(jì)算和標(biāo)準(zhǔn)曲線分析功能,。

            聚吡咯超級(jí)電容器在0.5 mol/L H2SO4  

                            溶液中的CV曲線  

  鉑電極在3 mmol/L K4[Fe(CN)6]+ 0.4 mol/L KCl

              溶液中的CV 曲線（100mV/s）

 ④ 電化學(xué)噪聲

采用高阻跟隨器和零阻電流計(jì)測(cè)量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動(dòng)，可用于點(diǎn)蝕,、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂等局部腐蝕研究,。通過(guò)噪聲譜分析,，可評(píng)估亞穩(wěn)態(tài)蝕點(diǎn)或裂紋的誘導(dǎo)、生長(zhǎng)和死亡過(guò)程,?；谠肼曤娮韬忘c(diǎn)蝕指數(shù)計(jì)算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測(cè),。

⑤ 功率擴(kuò)展

CS系列電化學(xué)工作站的電流控制范圍為±2.0A,，槽壓輸出≥21V，可滿足燃料動(dòng)力電池,、大功率電池充放電,、電化學(xué)電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用的功率擴(kuò)展器,，zui大輸出電流可達(dá)±5.0A,，槽壓±200V。

⑥ 全浮地測(cè)量

CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極,，可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究,，如用于高壓釜電化學(xué)測(cè)試（釜體接地）,，大地中金屬構(gòu)件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線腐蝕研究等,。

⑦ 光電測(cè)試模塊

CS電化學(xué)工作站可以與光強(qiáng)計(jì),、分光光度計(jì)聯(lián)用，用于光電化學(xué)測(cè)量,，在進(jìn)行電化學(xué)測(cè)量的同時(shí)記錄光電流或光譜響應(yīng)信號(hào),。

⑧ 自定義方法

支持用戶自定義組合測(cè)量，用戶可以設(shè)定定時(shí)循環(huán)進(jìn)行某一測(cè)試方法或多種方法的組合測(cè)試,，用于無(wú)人值守下的定時(shí)自動(dòng)測(cè)量,；

提供API通用接口函數(shù)和開(kāi)發(fā)實(shí)例，方便用戶二次開(kāi)發(fā)和自定義測(cè)試方法,；

提供用戶自定義腳本編寫(xiě)范例,，用于實(shí)現(xiàn)您*的電化學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)。

硬件參數(shù)指標(biāo)

恒電位控制范圍：±10V

恒電流控制范圍：±2.0A

電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV

電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)

電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)

電流靈敏度：<10pA

電位上升時(shí)間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A)

電流量程：2A～200nA, 共8檔

參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF

zui大輸出電流：2.0A

槽壓輸出：±21V

電流掃描增量：1mA @1A/mS

CV和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s

電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS

CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s

DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s

SWV頻率：0.001～100KHz

CV的zui小電位增量：0.075mV

AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz,，20bit @1kHz

電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置

DA分辨率：16bit,，建立時(shí)間：1μS

低通濾波器 ：8段可編程

通訊接口：USB2.0

儀器重量：6.5Kg

外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H)

電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)

信號(hào)發(fā)生器

頻率響應(yīng)：10μHz～115KHz

交流信號(hào)幅值：1mV～2500mV

頻率精確度：0.005%

直流偏壓：-10V～+10V

DDS輸出阻抗：50Ω

波形：正弦波，三角波,，方波

正弦波失真率：<1%

掃描方式：對(duì)數(shù)/線性,，增加/下降

信號(hào)分析器

zui大積分時(shí)間：106個(gè)循環(huán)或者105S

測(cè)量時(shí)間延遲：0～105秒

zui小積分時(shí)間：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的zui長(zhǎng)時(shí)間

直流偏置補(bǔ)償

電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V

電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A

帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8級(jí)可調(diào)