提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析、PSD分析,、體積,、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集,、分析、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通,、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置,、數(shù)據(jù)配置、掃描,、屏蔽和插值,。交互縮放。X-Y和線段剖面,。三維線路,、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖,。

主要特點(diǎn)：

◆微觀二維（2D）和三維（3D）形貌輪廓獲取
◆多種測量功能
將采樣數(shù)據(jù)運(yùn)算后,可獲得精確定量的面積（空隙率,，缺陷密度，磨損輪廓截面積等）,、體積（孔深,，點(diǎn)蝕，圖案化表面,，材料表面磨損體積以及球狀和環(huán)狀工件表面磨損體積等）,、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚,、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數(shù)等測量數(shù)據(jù),。

NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI臺階儀是非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像,、大的掃描范圍,，可定制的波長范范圍，使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌,。提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析,、PSD分析、體積,、角度計(jì)算,、曲率計(jì)算、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集,、分析、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通,、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置,、數(shù)據(jù)配置,、掃描、屏蔽和插值,。交互縮放,。X-Y和線段剖面。三維線路,、混合和固定繪圖,。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。
三維形貌儀主要應(yīng)用在金屬材料,、生物材料,、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,，臺階高度,，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax）,，劃痕截面面積,，劃痕體積，磨損面積,，磨損體積,，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀,。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
測量表面可以覆蓋90%以上材料表面,。設(shè)備傳感器精度高,，穩(wěn)定性好，材料應(yīng)用面廣,。熱噪聲是同類產(chǎn)品zui低的,。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm （ phase-shift mode） 可測跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,，包括透明,、金屬材料，半透明,、高漫反射,，低反射率、拋光,、粗糙材料（金屬,、玻璃、木頭,、合成材料、光學(xué)材料,、塑料,、涂層、涂料,、漆,、紙、皮膚,、頭發(fā),、牙齒…）；
 
 
三維形貌儀
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)
 
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù),。 欲了解的配置和性能,，請與我們。
搭載多鏡頭          zui多可同時搭載6枚物鏡
Z軸聚焦范圍       0.1納米至10mm
手動旋轉(zhuǎn)平臺范圍             360度
高清圖像
 
2維,、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像,。利用所提供的軟件，通過設(shè)置一些選項(xiàng),、可以得到客戶需求的的曲線,、標(biāo)繪、視圖（例如直方圖及雷達(dá)圖等）
 
成像光源
長壽命強(qiáng)光LED，用戶可自選波長范圍
白光干涉儀對其光源承諾*的十年質(zhì)保,。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到*（高亮度的LED使反射率從小于0.4%到*的樣品均可清晰成像,。）白光干涉光源承諾十年質(zhì)保。
三維形貌儀允許客戶改變可用波長掃描各種樣品,。
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+86-
+86-何
公司：www.aeptechnolongy.com.cn

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