覆層測厚儀廠家價格功能特點：

采用了磁性測厚方法,，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼,、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅,、鋁,、鉻、銅,、橡膠,、油漆等）。

覆層測厚儀廠家價格安裝措施：合理選擇安裝地點,，干燥,、無雨雪滴漏的地方。如若為液晶顯示儀器,，面板（控制箱即顯示器）請用干布擦拭,，嚴(yán)防沾水，以免損壞IC電子零件,。上海魅宇開通網(wǎng)上購物,。我公司擁有一支高素質(zhì)的技術(shù)隊伍和精良的加工設(shè)備，較較較*的制作工藝及完善的檢測手段,，并不斷從事新產(chǎn)品的研制和開發(fā),，生產(chǎn)出高品位、高質(zhì)量的產(chǎn)品以滿足市場的需要,。

相關(guān)設(shè)備恒溫恒濕標(biāo)準(zhǔn)養(yǎng)護(hù)箱

參數(shù)：
▲測頭類型：F,。
▲測量原理：磁感應(yīng)。
▲測量范圍：0-1250um,。
▲低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）,。
▲探頭連接方式：一體化。
▲示值誤差：一點校準(zhǔn)（um）±[3%H 1],。
▲兩點校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1],。
▲測量條件：小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
▲基體小面積的直徑（mm）：ф7,。
▲小臨界厚度（mm）：0.5,。
▲溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH,。
▲統(tǒng)計功能：平均值（MEAN）大值（MAX）,、小值（MIN）,、測試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）,。
▲工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
▲測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置,。
▲存儲能力：15 個測量值,。
▲打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
▲關(guān)機方式：自動,。
▲電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池,。
▲外形尺寸：150×55.5×23mm。
▲重量：150g,。
▲基本配置：主機,。
▲標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
▲鐵基體,。
▲充電器,。
▲可選附件。
▲TA230打印機,。

基本原理：
本儀器采用了磁性測厚法,，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵,、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁,、鉻、銅,、琺瑯,、橡膠、油漆鍍層）,。  基本工作原理是：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在,，使磁路磁阻變化,，通過測量其變化可計算覆層的厚度。

基本配置：
▲TT220主機 一臺
▲標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒
▲標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊
▲充電器 1個

主要功能：
▲可進(jìn)行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn),，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：
▲具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
▲具有兩種工作方式：直接方式和成組方式,；
▲具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),，以便進(jìn)行新的測量,；
▲設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）,、小值（MIN）,、測試次數(shù)（NO.）,、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
▲具有打印功能,，或打印測量值,、統(tǒng)計值；
▲具有欠壓指示功能,；
▲操作過程有蜂鳴聲提示,；
▲具有錯誤提示功能；
▲具有自動關(guān)機功能,。

優(yōu)點：
▲測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍,；
▲精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上能達(dá)到*的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
▲穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品,；
▲功能,、數(shù)據(jù)、操作,、顯示全部是中文,。

簡介：
該儀器是一種超小型測量儀，它能快速,、無損傷,、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè),、金屬加工業(yè)、化工業(yè),、商檢等檢測領(lǐng)域,。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,，特別適用于工程現(xiàn)場測量,。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。