【Axioskop 40 Pol】Zeiss蔡司偏光顯微鏡

應(yīng)用領(lǐng)域

地質(zhì)學(xué),，礦物學(xué),，結(jié)晶學(xué)，磁性材料,，陶瓷/玻璃,，高分子材料，紡織學(xué),，法醫(yī)鑒定等行業(yè)的偏光研究及日常實驗室應(yīng)用,。

技術(shù)參數(shù)：

1、物鏡倍數(shù)：5X 10X 20X 40X 50X 63X 100X 可選1.25X 2.5X 150X

2,、目鏡倍數(shù)：10X/23mm

3,、物鏡轉(zhuǎn)盤：6孔

4、觀察功能： 透射光: 偏光,、正交偏光,、錐光、明場、暗場,、相襯,、DIC

                     反射光：偏光、明場,、暗場,、DIC、C-DIC,、熒光

5,、可擴展性：可配圖像分析系統(tǒng)（數(shù)碼相機、攝像頭,、圖像分析軟件）

6,、可配冷熱臺

7、可配顯微分光光度計

產(chǎn)品描述：

Axioskop 40 Pol的技術(shù)特點

1. 線形或環(huán)形,，兩種類型的偏光

線偏光只能從一個特定方向看到樣品結(jié)構(gòu),，而環(huán)偏光可以在不轉(zhuǎn)動載物臺的情況下，看到各個方向的圖象,，有利于對巖石薄層進行彩色照相,，而且有利于通過圖象分析檢測塑料結(jié)構(gòu)或玻璃的應(yīng)力。

2 .C-DIC：高反差的*技術(shù)

Axioskop 40 Pol的*技術(shù)：C-DIC ,，適用于EC Epiplan-Neofluars物鏡,；使用方便，可以通過簡單地調(diào)節(jié)旋鈕來獲得固定圖象片段的*反差,。

3. 無接觸測量：新型反射光干涉儀TIC

環(huán)行雙光束干涉儀能夠測量物體的表面構(gòu)造和粗糙度,，測量范圍50到5000納米，適用于各種倍率的物鏡,。

4. 磁性材料模塊

磁性材料在新型材料和數(shù)據(jù)存儲設(shè)備中有著日益增長的重要性,，在顯微鏡觀察中，通過克爾效應(yīng)成像,，*次在蔡司顯微鏡上得以實現(xiàn),。

廠家:德國蔡司（zeiss jena）光學(xué)

顯微鏡價格:請 carl zeiss 中國 深圳顯微鏡銷售代理

深圳市九天實業(yè)發(fā)展有限公司

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