毫米劃痕壓頭 —用于宏觀尺度的劃痕測量,。

納米、微米級摩擦學(xué)壓頭 —用于薄膜,、涂層以及塊體材料的摩擦磨損測量,、靜態(tài)/動態(tài)摩擦學(xué)測量、耐用度,、附著力,，粘滑性等機械性能測量。
 
CETR-Apex檢測特性 & 技術(shù)優(yōu)勢

配備隔熱罩,、隔音罩以及防震臺
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學(xué)性質(zhì)的變化
微納壓痕檢測信息圖案化,，信息完整全面，檢測效率高,，重復(fù)性好  
用戶自定義數(shù)據(jù)分析算法或分析模型,，精確檢測材料機械性能
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)

劃痕測試選項

自定義劃痕軌跡（鋸齒形、線形,、螺旋形,、旋轉(zhuǎn)形）
自動聚焦顯微鏡可實現(xiàn)自動劃痕
全景成像，可以觀測到整個溝槽的信息
可同時獲得劃痕的完整圖像以及摩擦學(xué),、聲學(xué)發(fā)射信號,、溝槽深度、材料力度等各種機械性能信息
改進(jìn)操作窗口,，包括：整幅圖像的縮進(jìn),、拉出、采集圖像和分析數(shù)據(jù)同步顯示

納米摩擦磨損測試選項

可隨意更換線性或旋轉(zhuǎn)驅(qū)動
可以自定義選擇測試環(huán)境的溫度,、濕度及氣體濃度
任意選擇從極低到*的測試速度
超低負(fù)載——精確控制負(fù)載,、測試速度和樣品定位，所得測試數(shù)據(jù)具有*的重復(fù)性
技術(shù)傳感器滿足X,、Y和Z軸同時驅(qū)動進(jìn)行摩擦磨損測試
進(jìn)行摩擦,、磨損、粘滯力,、粘滑性等多種測試

納米模塊 NH
隨著納米科技和薄膜技術(shù)的發(fā)展（太陽能電池,，cvd、pvd,、dlc,、MEMS等），納米尺度的機械性能測試趨向標(biāo)準(zhǔn)化,。納米機械性能測試在傳統(tǒng)測試基礎(chǔ)上有了很大改進(jìn),，通過設(shè)計高寬徑比的探針測試更深更窄的溝槽，還實現(xiàn)低負(fù)載,，高空間分辨以及原位負(fù)載-位移數(shù)據(jù)精確測量,。
納米壓痕 — 參照ISO14577認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，選取單點/多點壓痕來測量薄膜,、涂層和塊體材料的硬度,、楊氏模量、張力,、應(yīng)力（馮米塞斯應(yīng)力,，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等。
納米劃痕 – 在接觸模式下,，可根據(jù)用戶自定義不斷增加負(fù)載,，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力,。
動態(tài)壓痕 - 通過探針動態(tài)測量方法,，檢測深度依賴性損失以及存儲模量。

NH特性
電磁驅(qū)動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測樣品摩擦學(xué)性質(zhì)變化
針尖幾何形狀為berkovich,、球體,、或者立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化，信息完整全面
可選擇線性成像（*AFM功能）
檢測效率高,，重復(fù)性好
可選擇*的原位傳感器
配備隔熱罩,、隔音罩以及防震臺
符合ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)

微米模塊 MH
微米機械性能測試已經(jīng)被應(yīng)用于檢測涂層和塊體材料的各種機械性能。微米機械性能測試儀大大優(yōu)于傳統(tǒng)測試方法,，可以實現(xiàn)原位負(fù)載數(shù)據(jù)精確替換,、應(yīng)用類似聲學(xué)發(fā)射檢測、ECR,、摩擦檢測等信號來獲得更多機械性能信息,。
儀器化微米壓痕檢測——參照ISO14577認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),，在毫米尺度（應(yīng)用超過2牛的負(fù)載）以及微米尺度（低于2牛的負(fù)載）下檢測涂層和塊體材料的硬度、楊氏模量,、張力,、應(yīng)力（馮米塞斯應(yīng)力，von Mises stresses）和接觸強度/剛度等,。
傳統(tǒng)維氏硬度和努普硬度  參照ASTM E384.99認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),，測量微米尺度的材料硬度。
微米劃痕 —在接觸的模式下,，可根據(jù)用戶自定義不斷增加負(fù)載,，檢測薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕黏附力,。

MH特性
 
電磁驅(qū)動傳感器
三板電容傳感以超高精確度檢測位移
針尖幾何形狀為berkovich,、球體、或立方隅角的壓痕檢測器
微納壓痕檢測信息圖案化,，信息完整全面
可選擇線性成像（*3D輪廓儀）
檢測效率高,，重復(fù)性好
選擇*的原位傳感器
用戶自定義數(shù)據(jù)分析算法或分析模型，精確檢測材料機械性能
符合 ASTM, DIN和ISO的所有檢測標(biāo)準(zhǔn)