Leica EM TXP定點修塊拋光機

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徠卡顯微鏡,，體視顯微鏡,，金相顯微鏡，顯微鏡攝像頭,，電鏡制樣設(shè)備,，原子力顯微鏡，

北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司

霍玉亮

Leica EM TXP定點修塊拋光機

徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)是用鋸，磨,，銑削,，拋光樣品后，供掃描電鏡,，透射電鏡,，和LM技術(shù)檢測。

帶有一體化體視鏡,，用于精確定位及對較細微難以觀察的目標(biāo)位置進行樣品處理時觀察,；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度,，0°－60°可調(diào),，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離,。


一體化自動程序控制一體化自動程序控制,，包括自動左右制動機制，前進反饋力控制,，倒計數(shù)功能等,，為使用者節(jié)約大量時間。	表面光潔度和標(biāo)靶檢測表面處理與目標(biāo)檢測,，都通過一體化體視鏡來完成,，用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測，這可大大提高使用者的工作效率,。
適配工具多樣性可適配多種多樣工具,，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進行研磨，切割,，鉆孔,，打磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監(jiān)控,，大大節(jié)省時間和費用,。