產(chǎn)品介紹

X射線膜厚儀是利用XRF原理來分析鍍層厚度及物質(zhì)成分,，可用於材料的涂層/鍍層厚度,、材料組成分析。請(qǐng)登錄www.axxistek.com了解詳情

X熒光測(cè)厚儀的應(yīng)用 :
測(cè)量鍍金,、涂層,、薄膜厚度或元素含量，其可偵測(cè)元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）,。
行業(yè) : 五金類,、螺絲類、 PCB 類,、連接器端子類行業(yè),、電鍍類等,。

XRF-2000 系列X熒光測(cè)厚儀分為以下三種：
1. H-Type :密閉式樣品室,，方便測(cè)量的樣品較大,，高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室,，方便測(cè)量 樣品較小,，高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開放式樣品室,，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) ,。

X射線鍍層測(cè)厚儀特色 :
非破壞，非接觸式檢測(cè)分析,，快速精準(zhǔn),。
可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層 （五層厚度 + 底材 ） 并可同時(shí)分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體,，操作方便,，直接可用Office軟體編輯報(bào)告 。
全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng),。
標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ,，可以分析電鍍液成份與含量。

標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式,，亦可將數(shù)據(jù),、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 ,。

光學(xué)2 0X 影像放大功能,，更能精確對(duì)位。

單位選擇： mils ,、 uin ,、 mm 、 um ,。
優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的*優(yōu)勢(shì),。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑,。
移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制,，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析,。
雷射對(duì)焦,，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

儀器正常使用保固期一年,，強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù),。
測(cè)試方法符合 ISO 3497 ,、 ASTM B568 及 DIN 50987。