儀器特點 ：

計算機全數(shù)字化控制,，操作簡捷直觀,。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近，保證實驗圓滿成功,。
深度陡度測量,，三維顯示,。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計,。
Ｘ,、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um,。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊,。
 
技術指標 ：

AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm,。
XYzui大掃描范圍：標準6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式),；0.25nm（AFM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）
XY二維樣品移動范圍：５mm,；精度0.5微米
步進馬達自動進行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學針尖塊,，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購
 
電子學控制器：
 
XTZ控制 18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D,、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率 
高壓放大器 集成高壓運算放大器,，zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點/秒
掃描角度 0-360度
掃描偏移 任意
圖像采樣點 256X256或512X512
步進馬達控制 手動和自動進退
計算機接口 標準RS232串行/USB