AFM NanoFirst-2100 原子力顯微鏡
- 公司名稱 上海思龍科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號 AFM NanoFirst-2100
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問次數(shù) 585
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,，謝謝!
分光光度計(jì),；電子天平,；氣相色譜；液相色譜,；粘度計(jì),；水分測定儀；低溫恒溫槽；酶標(biāo)儀,；離心機(jī),；移液器；干燥箱,；恒溫恒濕箱,；酸度計(jì)；電導(dǎo)率儀,；除濕機(jī)
儀器特點(diǎn) ：
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,，操作簡捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖--樣品逼近,，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功,。
深度陡度測量，三維顯示,。
納米材料粗糙度測量,、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ,、Ｙ二維樣品移動平臺,，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊,。
技術(shù)指標(biāo) ：
SPM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm,；厚度小等于15mm
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）,；0.1nm(STM模式)
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式),；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)
XY二維樣品移動范圍：５mm,；精度0.5微米
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
電化學(xué)針尖塊,，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）
電子學(xué)控制器：
XTZ控制 18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D,、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率 64.0KHz
高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器,，zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點(diǎn)/秒
掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào)
掃描偏移 任意
圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制 手動和自動進(jìn)退
計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/US
采購中心
化工儀器網(wǎng)