HY(IC)-HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
2025-04-02
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HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
本儀器針對IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲,、扭矩的試驗(yàn); 采用*的同步帶傳動,,非接觸式光電計(jì)數(shù),,15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命,。
主要技術(shù)參數(shù)
外形尺寸:長×寬×高(670×380×220mm)
儀器重量:70kg
電壓:AC220V±5%
功率:35W
測試速度:彎曲30r/min
測試周期:1~9999次
彎曲度,;長邊20 mm,,短邊10 mm
扭曲度:15°±1°雙向
產(chǎn)品用途:用于檢測磁條卡,,IC芯片卡,,集成電路卡,,等卡的彎曲和扭曲性能測試,。
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