2025-03-26
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金屬分析儀器-貴金屬礦檢測(cè)儀器
1. 主要型號(hào)及特點(diǎn)
（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟(jì)型）
適用場(chǎng)景：基礎(chǔ)礦石分析,、礦脈勘探
檢測(cè)元素：Mg（鎂）~ U（鈾）
核心優(yōu)勢(shì)：
性價(jià)比高,，適合預(yù)算有限的用戶
防塵防水（IP54）,，適應(yīng)野外環(huán)境
配備硅漂移探測(cè)器（SDD）,，檢測(cè)速度快（1~3秒）
（2）Vanta C系列（高性能）
適用場(chǎng)景：高精度礦石分析,、稀土元素檢測(cè)
檢測(cè)元素：擴(kuò)展至輕元素（可選配Li,、Be等）
核心優(yōu)勢(shì)：
超高靈敏度（ppm級(jí)檢測(cè)限）
可測(cè)**稀土元素（REE）**如La,、Ce,、Nd等
耐環(huán)境（-10°C~50°C）
（3）Vanta M系列（工業(yè)級(jí)）
適用場(chǎng)景：礦山質(zhì)量控制,、冶煉廠原料檢測(cè)
檢測(cè)元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測(cè)輕元素）
核心優(yōu)勢(shì)：
抗摔設(shè)計(jì)（1.2米跌落測(cè)試）
大容量電池（連續(xù)工作8~12小時(shí)）
支持云數(shù)據(jù)同步，方便團(tuán)隊(duì)協(xié)作
2. 核心技術(shù)：X射線熒光（XRF）
原理：X射線激發(fā)礦石原子,，通過熒光光譜分析元素成分,。
精度：
主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%
微量元素（如Au,、Ag）檢測(cè)限達(dá)ppm級(jí)
適用礦石類型：
金屬礦（銅,、鐵、鉛鋅,、金,、銀等）
稀土礦（釹、鑭,、鈰等）
工業(yè)礦物（磷灰石,、鋁土礦等）
金屬分析儀器-貴金屬礦檢測(cè)儀器
3. 典型應(yīng)用場(chǎng)景
| 行業(yè) | 具體用途 |
|---|---|
| 地質(zhì)勘探 | 現(xiàn)場(chǎng)快速分析礦脈成分，指導(dǎo)鉆探方向 |
| 礦山開采 | 礦石品位評(píng)估（如金礦含金量,、銅礦品位） |
| 選礦廠 | 分選高/低品位礦石,，優(yōu)化冶煉流程 |
| 環(huán)境監(jiān)測(cè) | 檢測(cè)尾礦中的有害元素（如As、Hg,、Cd） |
| 貿(mào)易檢測(cè) | 礦石交易中的成分公證,，避免摻假 |
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