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BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

2025-02-24

產      地:
中國丹東
所在地區(qū):
遼寧丹東市
有效期還剩 62舉報該信息

產品介紹

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統(tǒng),。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS,、電泳光散射ELS,、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術,,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,,Zeta電位,,高分子和蛋白體系的分子量,、液體的折射率,、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應用于化學,、化工,、生物、制藥,、食品,、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。


BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


基本性能指標

粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

 粒徑范圍 0.3 nm – 15 μm
 最小樣品量  3 μL
 檢測角度  173 °+90 ° + 12°
 分析算法  Cumulants,、通用模式,、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測試

 檢測方法  沉降法
 粒徑范圍  1μm-50μm
 檢測角度
樣品量  1-3ml

Zate電位測試

 檢測角度  12°
 Zeta范圍  無實際限制
電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
 電導率范圍  0 - 260 mS/cm
 Zeta測試粒徑范圍  2 nm – >120 μm  

分子量測試

 分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

微流變測試

 測試能力  均方位移,、復數(shù)模量,、彈性模量、粘性模量,、蠕變柔量

趨勢測試

 模式  時間和溫度

濃度檢測

 檢測方法 LEDLS
 測試能力  體積分數(shù)和數(shù)量濃度

折光率測試

檢測方法 楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)
 檢測角度  0°
 RI范圍  1.2-1.6
 精度  優(yōu)于0.1%
最小樣品量  380 μL

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍 -15°C - 120°C
 冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
 相關器  50 mW 高性能固體激光器,, 671 nm
 電泳遷移率范圍  快、中,、慢多模式,,最快25 ns采樣,最多 4000通道,,1011動態(tài)線性范圍
 檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
 光強控制  0.0001%  - 100%,,手動或者自動    









檢測參數(shù)


動態(tài)光散射

●流體力學尺寸 Dh

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強、體積,、面積和數(shù)量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學信息G*,,G‘,G“,,η*,,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態(tài)光散射

● 絕對分子量Mn、Mw,、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A2



選配件

動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF,、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,,依次流出,。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布,、分子量分布信息。

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性,,尤其是環(huán)境pH,,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號,。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,,具有測試效率高、精確定量,、重復性好,、結果不依賴于操作者等特點,。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險,。

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀            


BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備,,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間,、溫度的不穩(wěn)定性變化,,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息,。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,,縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因,。

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀



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