BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀
2025-02-24
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產品介紹
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統(tǒng),。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS,、電泳光散射ELS,、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術,,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,,Zeta電位,,高分子和蛋白體系的分子量,、液體的折射率,、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應用于化學,、化工,、生物、制藥,、食品,、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。
基本性能指標
粒徑檢測(動態(tài)光散射法)
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
最小樣品量 | 3 μL |
檢測角度 | 173 °+90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants,、通用模式,、CONTIN、NNLS |
沉降法粒度測試
檢測方法 | 沉降法 |
粒徑范圍 | 1μm-50μm |
檢測角度 | 0° |
樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測試
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
電導率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
分子量測試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移,、復數(shù)模量,、彈性模量、粘性模量,、蠕變柔量 |
趨勢測試
模式 | 時間和溫度 |
濃度檢測
檢測方法 | LEDLS |
測試能力 | 體積分數(shù)和數(shù)量濃度 |
折光率測試
檢測方法 | 楔形池樣品折射(無需示蹤粒子) |
檢測角度 | 0° |
RI范圍 | 1.2-1.6 |
精度 | 優(yōu)于0.1% |
最小樣品量 | 380 μL |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15°C - 120°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
相關器 | 50 mW 高性能固體激光器,, 671 nm |
電泳遷移率范圍 | 快、中,、慢多模式,,最快25 ns采樣,最多 4000通道,,1011動態(tài)線性范圍 |
檢測器 | APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS |
光強控制 | 0.0001% - 100%,,手動或者自動 |
檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積,、面積和數(shù)量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學信息G*,,G‘,G“,,η*,,J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測試
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
● 絕對分子量Mn、Mw,、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF,、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,,依次流出,。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布,、分子量分布信息。
●BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性,,尤其是環(huán)境pH,,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號,。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,,具有測試效率高、精確定量,、重復性好,、結果不依賴于操作者等特點,。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險,。
●BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備,,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間,、溫度的不穩(wěn)定性變化,,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息,。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,,縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因,。