SANKO山高SWT系列專用探頭SFe -20
SANKO山高SWT系列專用探頭SFe -20
產(chǎn)品特性
與主機(jī)一起提供單獨(dú)的可互換探頭。
選擇用于測(cè)量對(duì)象上的鐵(電磁)或有色金屬(渦流)基體的探頭,。
選擇探頭(如高穩(wěn)定性探頭)的能力,,可根據(jù)應(yīng)用和測(cè)量范圍測(cè)量微小的物體或類似物體,。
SWT(Fe 探針)的規(guī)格
模型
SFe-2.5※1/2.5公升
SFe-0.6 筆
顯示分辨率
1μm:0~999μm 切換到 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm 0.01mm:1.00~2.50mm
1μm:0~600μm 切換到 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
精度 (在平面上垂直測(cè)試)
0~100μm:±1μm 或 ±2% 讀數(shù)值
101μm~2.50mm:±2%
0~100μm:±1μm 或 ±2% 讀數(shù) 101μm~600μm:
±2% 讀數(shù)
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型
V型切割 2.5:φ15×47mm 2.5L:18x23x67mm
單點(diǎn)接觸恒壓型 V 形切割 φ5.6 x 92.2mm
輔料
標(biāo)準(zhǔn)厚度,,測(cè)試用零板 (Fe)
測(cè)量對(duì)象
在鐵,、鋼等磁性金屬基材上涂布、襯里,、熱噴涂膜,、電鍍(電解質(zhì)缺口鍍除外)等。
在狹窄/狹小的地方和部分基材(如鐵,、鋼)上進(jìn)行涂層、襯里,、電鍍,。
※1.探頭耐熱(約 200°C),。(SFe-2.5)
※2.SFe-2.5 可使用 V 型探頭適配器(3 種:lessΦ5,、Φ5~10、Φ10~20),。
顯示分辨率
1μm:0~999μm
0.01mm:1~10mm
1μm:0~999μm
0.01mm:1~5mm
0.1mm:5~20mm
精度 (在平面上垂直測(cè)試)
0~3mm:±(5μm + 3% 讀數(shù)值)
以上或 3.01mm:±3% 讀數(shù)值
探針
一點(diǎn)接觸恒壓型 V型切割 φ20.4x47.1mm
一點(diǎn)接觸恒壓型 V切 φ35x55mm
輔料
標(biāo)準(zhǔn)厚度,測(cè)試用零板 (Fe)
測(cè)量對(duì)象
相對(duì)較厚的物體
厚物體
SWT(NFe 探針)的規(guī)格
顯示分辨率
1μm:0~999μm
切換到
0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.00mm
精度 (在平面上垂直測(cè)試)
0~100μm:±1μm
或 ±2% 讀數(shù)值
101μm~2.00mm:±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型 V 型切割
2.0:φ15 x 47mm 2.0L:18 x 22 x 67mm
輔料
標(biāo)準(zhǔn)厚度,,用于測(cè)試的零板 (NFe)
測(cè)量對(duì)象
非磁性金屬基材(如鋁,、銅)上的絕緣薄膜
探頭必須單獨(dú)訂購,。
※SNFe-2.0 可使用 V 型探頭適配器(3 種:lessΦ5、Φ5~10,、Φ10~20)。
顯示分辨率
1μm:0~600μm
切換到
0.1μm:0~400μm
0.5μm:400~500μm
1μm:0~999μm
0.01mm:1~8mm
精度 (在平面上垂直測(cè)試)
0~100μm:±1μm
或 ±2% 讀數(shù)值
101μm~600μm:±2%
0~3mm:±(5μm + ±3%讀數(shù)值)
以上或 3.01mm:±3%讀數(shù)值
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型 V 型切割 Φ13×45.5mm
單點(diǎn)接觸恒壓型 V切 φ35×59mm
輔料
標(biāo)準(zhǔn)厚度,用于測(cè)試的零板 (NFe)
測(cè)量對(duì)象
非磁性金屬基材(如鋁,、銅)上的絕緣薄膜
像鋁一樣,杯子對(duì)窄棒,、管,、小件具有高穩(wěn)定性
相對(duì)較厚的物體
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