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HJS-全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

2024-09-21

產(chǎn)      地:
暫無(wú)
所在地區(qū):
吉林長(zhǎng)春市
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全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品用途 Product Usage

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置,,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試,。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求,。

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz~1Mhz 2Mhz 5Mhz, 三種選項(xiàng)它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試,。

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品,,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器,。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)可以直接不用人工計(jì)算得到。

概述

HJS-S是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀,,體積小,,緊湊便攜,便于上架使用,。本系列儀器基本精度為0.05%,,測(cè)試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,,操作方便簡(jiǎn)潔,。集成了變壓器測(cè)試功能、平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率,。儀器提供了豐富的接口,,能滿足自動(dòng)分選測(cè)試,數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求,。

固體執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)   GB/T 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法                             液體

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)Advantages and Characteristics

1,、可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗 不用人工計(jì)算

2,、可測(cè)試電阻

3、 4.3寸TFT液晶顯示

4,、 中英文可選操作界面

5,、 最高5MHz的測(cè)試頻率

6、平衡測(cè)試功能

7,、 變壓器參數(shù)測(cè)試功能

8,、 最高測(cè)試速度:13ms/次

9、 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能

10,、 V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

11,、 內(nèi)部自帶直流偏置源

12,、 可外接大電流直流偏置源

13、 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

14,、 30Ω,、50Ω,、100Ω可選內(nèi)阻

15、 內(nèi)建比較器,,10檔分選和計(jì)數(shù)功能

16,、 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存

17、 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)

18,、 RS232C,、 USB 、LAN,、HANDLER,、GPIB、DCI接口

19,、 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

20,、 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1~105

ε D性能:

固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測(cè)試,。

ε和D測(cè)量范圍

ε:1~105,D:0.1~0.00005,,

ε和D測(cè)量精度(10kHz)

ε:±2% ,, D:±5%±0.0001

測(cè)試參數(shù)

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率

20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電

f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)

輸出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度

0.1%

顯示范圍

L 0.0001 uH ~ 9.9999kH

C :0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR : 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

顯示范圍

Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S

D : 0.0001 ~ 9.9999

Q : 0.0001 ~ 99999

θ : -179.99°~ 179.99°

測(cè)量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)

中速

25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能

開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零,,負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式

串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式

自動(dòng), 保持

顯示方式

直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式

內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏

電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源

電流模式(內(nèi)阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能

10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器

320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器

可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口

LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)

工作頻率范圍

20Hz~2MHz 數(shù)字合成,,

精度

±0.02%

電容測(cè)量范圍

0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯

電容測(cè)量基本誤差

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.00001~9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測(cè)試裝置(含保護(hù)電極)

精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極,能對(duì)直徑φ1056mm,,厚度<10mm的試樣精確測(cè)量,。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,,以適應(yīng)軟材料,,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

微分頭分辨率

10μm

最高耐壓

±42Vp(AC+DC)

電纜長(zhǎng)度設(shè)置

1m

最高使用頻率

5MHz

電極示意圖Electrode schematic diagram

設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置Equipment standard configuration

試驗(yàn)主機(jī)                        一臺(tái)  

試驗(yàn)電                        

數(shù)據(jù)連接線                      一條  

電源線                          一條

說(shuō)明書(shū)                          一份

合格證                          一份

保修卡                          一份



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