X-ray檢測(cè)儀-半導(dǎo)體元器件X-RAY檢測(cè)儀
2024-12-11- 產(chǎn) 地:
- 新吳區(qū)漓江路11號(hào)
- 所在地區(qū):
- 江蘇無(wú)錫市
半導(dǎo)體元器件X-RAY檢測(cè)儀介紹:
半導(dǎo)體元器件X-RAY檢測(cè)儀應(yīng)用于倒裝芯片檢測(cè),半導(dǎo)體,、封裝元器件,、鋰電行業(yè),,電子元器件、汽車零部件,、光伏行業(yè),,鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測(cè)。
目前SMT加工行業(yè)中使用的測(cè)試技術(shù)種類繁多,,常用的*測(cè)試方法有:人工目檢、AOI檢測(cè),、ICT測(cè)試,、X-ray檢測(cè)、及功能測(cè)試FCT等,。其中具有內(nèi)部透視功能進(jìn)行無(wú)損探傷的X-RAY檢測(cè)技術(shù)運(yùn)用就是這其中,它不僅可以對(duì)不可見(jiàn)焊點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè),,如BGA,、CSP等封裝元器件。還可以對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行定性,、定量分析,,尤其*,以便及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題所在,。
主要檢測(cè)方法如下:
人工目檢是一種用肉眼檢察的方法。人工檢測(cè)不穩(wěn)定,、成本高,、對(duì)大量采用焊接處檢測(cè)不精準(zhǔn),。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)是通過(guò)CCD照相的方式獲得器件或PCB的圖像,然后經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)的處理和分析比較來(lái)判斷缺陷和故障,。其優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,,編程時(shí)間較短,可以放到生產(chǎn)線中的不同位置,,便于及時(shí)現(xiàn)故障和缺陷,使生產(chǎn),、檢測(cè)合二為一,。不足是:不能檢測(cè)電路屬性,例如電路錯(cuò)誤,,對(duì)不可見(jiàn)焊點(diǎn)檢測(cè)不到。ICT針床測(cè)試是一種廣泛使用的測(cè)試技術(shù),。測(cè)試速度快,,適合于單一品種大批量的產(chǎn)品,使用成本高,、制作周期長(zhǎng),對(duì)于最新高集成度的智能化產(chǎn)品因無(wú)法植入測(cè)試點(diǎn)而不能進(jìn)行ICT檢測(cè),。
產(chǎn)品應(yīng)用:
● pcba焊點(diǎn)檢測(cè)(BGA ,、CSP ,、POP等元器件檢測(cè))
● 電池(極片焊點(diǎn)缺陷檢測(cè)、電芯繞卷情況檢測(cè))
● 電子接插件(線束,、線纜,、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤(pán)等檢測(cè))
● 太陽(yáng)能,、光伏(硅片焊點(diǎn)檢測(cè))
● 半導(dǎo)體(封裝元器件檢測(cè))
● LED檢測(cè)
● 電子模組檢測(cè)
● 陶瓷制品檢測(cè)
標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 4/2(選配6寸)像增強(qiáng)器和百萬(wàn)像素?cái)?shù)字相機(jī),;
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)點(diǎn)擊操作編寫(xiě)檢測(cè)程序,;
● 檢測(cè)重復(fù)精度高;
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,,允許*視角檢測(cè)樣,;
● 高性能的載物臺(tái)控制;
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識(shí)別不良品,;
● 自動(dòng)BGA檢測(cè)程序準(zhǔn)確檢測(cè)每一個(gè)BGA的氣泡,,根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報(bào)表,。
安全的檢測(cè)設(shè)備:
日聯(lián)作為一個(gè)有著高度社會(huì)責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商,首要考慮的就是設(shè)備的安全性能,。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠,,使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,,也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。
日聯(lián)科技成立于2002年,,目前已成為國(guó)內(nèi)從事精密X-ray技術(shù)研究和X-ray智能檢測(cè)裝備研發(fā)、制造的國(guó)家*企業(yè),。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于LED,、SMT 、BGA,、CSP,、Flip-Chip,、IC半導(dǎo)體元器件,、連接器,、線材、光伏組件,、電池,、陶瓷制品、及其它電子產(chǎn)品內(nèi)部穿透檢測(cè)等,,X-ray 檢測(cè)有高清晰的圖像,,同時(shí)具備分析缺陷(例如: 開(kāi)路,短路,,漏焊等)的功能,。
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